[发明专利]一种滤波芯片引脚极性的检测方法在审
申请号: | 201910590565.2 | 申请日: | 2019-07-02 |
公开(公告)号: | CN110174403A | 公开(公告)日: | 2019-08-27 |
发明(设计)人: | 何应辉 | 申请(专利权)人: | 何应辉 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84;G01N21/01 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 汤东凤 |
地址: | 523294 广东省东莞*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明涉及滤波芯片技术领域,具体为一种滤波芯片引脚极性的检测方法,包括如下步骤:S1、提供一光学检测设备和运输滤波芯片的输送机构,提供一控制光学检测设备和输送机构所用的上位机;S2、根据上位机触发信号,经过灰度化和去噪处理得到待处理的灰度化图像信息;S3、利用图像处理技术,提取相关数据及信息;S4、根据设定的尺寸及标准参数公差值判断该区域是否合格。利用图像处理技术对实时采集到的图像进行模板定位匹配,从而实现对芯片引脚极性的视觉检测,具有突出的实质性特点和显著的进步。 | ||
搜索关键词: | 滤波芯片 光学检测设备 图像处理技术 输送机构 引脚极性 灰度化 上位机 实质性特点 标准参数 差值判断 触发信号 模板定位 实时采集 视觉检测 图像信息 芯片引脚 检测 去噪 匹配 图像 运输 | ||
【主权项】:
1.一种滤波芯片引脚极性的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:S1、提供一光学检测设备和运输滤波芯片的输送机构,光学检测设备上设有一相机以及提供相机光源的立方体光源,立方体光源位于输送机构的正上方,提供一控制光学检测设备和输送机构所用的上位机;S2、根据上位机触发信号,相机扫描采集输送机构上滤波芯片上表面的图像信息,经过灰度化和去噪处理得到待处理的灰度化图像信息;S3、利用图像处理技术对实时采集到的图像进行模板匹配对比,对区域内的图像作进一步的分析,提取相关数据及信息;S4、根据设定的尺寸及标准参数公差值判断该区域是否合格,从而达到对滤波芯片引脚极性的快速检测。
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