[发明专利]一种优化磁性随机存储器写性能的结构及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201910586552.8 申请日: 2019-07-01
公开(公告)号: CN112186097B 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 张云森;郭一民;陈峻;肖荣福 申请(专利权)人: 上海磁宇信息科技有限公司
主分类号: G11C11/16 分类号: G11C11/16;H10B61/00
代理公司: 上海容慧专利代理事务所(普通合伙) 31287 代理人: 于晓菁
地址: 201815 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开一种优化磁性随机存储器写性能的结构,包括写加速器,写加速器位于磁性随机存储器的底电极的下侧、底电极通孔的上侧,且写加速器与底电极和底电极通孔直接相连接。本发明还公开一种优化磁性随机存储器写性能的结构的制备方法,包括:步骤一:提供表面抛光的带金属连线Mx的CMOS基底;步骤二:经过平坦化处理之后的CMOS基底上,制作底电极通孔并将底电极通孔磨平;步骤三:底电极通孔上,图形化定义并刻蚀制作写加速器金属,填充写加速器电介质,并采用化学机械平坦化对其进行磨平;步骤四:写加速器之上,依次沉积底电极、磁性隧道结多层膜、顶电极,并制作磁性隧道结存储单元,最后在顶电极之上制作位线连接。
搜索关键词: 一种 优化 磁性 随机 存储器 性能 结构 及其 制备 方法
【主权项】:
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