[发明专利]成盒测试电路、阵列基板和液晶显示装置有效

专利信息
申请号: 201910561526.X 申请日: 2019-06-26
公开(公告)号: CN110189671B 公开(公告)日: 2022-02-01
发明(设计)人: 黄世帅 申请(专利权)人: 滁州惠科光电科技有限公司;北海惠科光电技术有限公司
主分类号: G09G3/00 分类号: G09G3/00;G02F1/13
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 景怀宇
地址: 239000 安徽省滁州市*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明实施例了一种成盒测试电路、阵列基板和液晶显示装置。所述成盒测试电路用于对液晶显示面板测试,所述液晶显示面板包括显示区域和非显示区域,所述成盒测试电路包括设置在所述非显示区域中的多个测试焊盘组,其中至少一个所述测试焊盘组包括两个测试焊盘对和一个转接焊盘,且在成盒测试过程中所述两个测试焊盘对共用所述转接焊盘,其中一个所述测试焊盘对包括一个奇数数据测试焊盘和一个偶数数据测试焊盘。
搜索关键词: 测试 电路 阵列 液晶 显示装置
【主权项】:
1.一种成盒测试电路,用于对液晶显示面板测试,所述液晶显示面板包括显示区域和非显示区域,其特征在于,所述成盒测试电路包括设置在所述非显示区域中的多个测试焊盘组,其中至少一个所述测试焊盘组包括两个测试焊盘对和一个转接焊盘,且在成盒测试过程中所述两个测试焊盘对共用所述转接焊盘,其中一个所述测试焊盘对包括一个奇数数据测试焊盘和一个偶数数据测试焊盘。
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