[发明专利]大长径比弱刚性磨杆磨削圆环端面的加工方法有效
申请号: | 201910544038.8 | 申请日: | 2019-06-21 |
公开(公告)号: | CN110328568B | 公开(公告)日: | 2021-01-19 |
发明(设计)人: | 朱祥龙;康仁科;焦振华;董志刚;高尚;卢成 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | B24B7/16 | 分类号: | B24B7/16;B24B47/20;B24B49/02;B24B49/12;B24B51/00;B24B53/06 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 李晓亮;潘迅 |
地址: | 116024 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: |
本发明公开了大长径比弱刚性磨杆磨削圆环端面的加工方法,将圆环端面加工分为底孔圆环端面处同轴孔的磨削加工、同轴孔孔壁去除加工及底孔圆环端面光整加工三步。在同轴孔加工过程中,通过测针测量同轴孔孔底与工件左端面间的距离Z |
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搜索关键词: | 长径 刚性 磨削 圆环 端面 加工 方法 | ||
【主权项】:
1.大长径比弱刚性磨杆磨削圆环端面的加工方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、开启机床,安装工件和砂轮,确认机床工作状态及加工程序正常;S2、砂轮修整:控制机床X轴工作台和Z轴工作台移动进行砂轮端面修整,并记录砂轮修整完成时机床Z轴光栅坐标值Z21;S3、确定砂轮与测针间轴向相对位置关系:控制机床X轴工作台和Z轴工作台移动使砂轮右端面接触到工件左端面,并记录此时机床Z轴光栅坐标值Z0,然后控制机床X轴工作台和Z轴工作台移动使测针接触到工件左端面,并记录此时机床Z轴光栅坐标值Z3,计算得砂轮与测针间轴向相对位置关系:ΔZ=Z0‑Z3;S4、控制机床X轴工作台运动至坐标
Z轴工作台轴向进给,使测针接触到底孔圆环端面,并将此时机床Z轴光栅坐标值记为Z4,然后控制Z轴工作台快速移动至Z向安全位Z1=Z0‑180,其中,X1为测针球头中心与工件回转轴线重合时,机床X轴光栅坐标值,0.5mm≤Δ1≤1mm,D1为工件底孔圆环端面内孔的孔径;S5、控制机床X轴工作台快速移动至坐标X0,Z轴工作台快速移动至坐标Z4+ΔZ‑Δ1,然后以速度fa运动至坐标Z0+L,最后控制Z工作台快速移动至Z向安全位Z1,其中,X0为砂轮轴线和工件回转轴线重合时,机床X轴光栅坐标值,10mm/min≤fa≤100mm/min,L为工件图纸上底孔圆环端面与工件左端面间的公称尺寸;S6、控制机床X轴工作台和Z轴工作台移动进行砂轮端面修整,并将砂轮修整完成时机床Z轴光栅坐标值记为Z22,然后控制Z轴工作台快速移动至Z向安全位Z1;S7、控制机床X轴工作台快速移动至坐标X0,Z轴工作台快速移动至坐标Z4+ΔZ‑Δ1,然后以速度fa运动至坐标Z0+L+Z22‑Z21,最后控制Z轴工作台快速移动至Z向安全位Z1;S8、控制机床X轴工作台快速移动至坐标
Z轴工作台轴向进给,使测针接触到底孔圆环端面处同轴孔孔底,并将此时机床Z轴光栅坐标值记为Z4,然后控制Z轴工作台快速移动至Z向安全位Z1;S9、判断L‑Z4+Z3≤30μm是否成立,是,执行步骤S10,否,执行步骤S6;S10、控制机床X轴工作台快速移动至坐标X0,Z轴工作台快速移动至坐标Z4+ΔZ‑Δ1,然后以速度fa运动至坐标Z0+L+Z22‑Z21;S11、控制机床X轴工作台以速度F1运动至坐标
然后控制机床Z轴工作台快速移动至Z向安全位Z1,其中,10≤F1≤100mm/min,D0为杯型砂轮内圆面直径,D2为工件图纸上底孔圆环端面外径;S12、控制机床X轴工作台和Z轴工作台移动进行砂轮端面修整,并将砂轮修整完成时机床Z轴光栅坐标值记为Z22,然后控制Z轴工作台快速移动至Z向安全位Z1;S13、控制机床X轴工作台快速移动至坐标
Z轴工作台快速移动至坐标Z4+ΔZ‑Δ1,然后以速度fa运动至坐标Z0+L+Z22‑Z21,最后控制Z轴工作台快速移动至Z向安全位Z1,其中,1mm≤Δ2≤2mm;S14、控制机床X轴工作台快速移动至坐标
Z轴工作台轴向进给,使测针接触到底孔圆环端面,并将此时机床Z轴光栅坐标值记为Z4,然后控制Z轴工作台快速移动至Z向安全位Z1;S15、如果L+EI≤Z4‑Z3≤L+ES,则执行步骤S16,否则,执行步骤S12;S16、完成磨削加工。
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