[发明专利]一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统和方法有效
| 申请号： | 201910509569.3 | 申请日： | 2019-06-13 |
| 公开（公告）号： | CN110261390B | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | 陈庚亮;郑爽 | 申请（专利权）人： | 深圳市智能机器人研究院 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人： | 胡辉 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市南山区粤海街道*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统和方法，其中系统包括图像采集模块、图像处理模块、漫反射光源和结构光光栅，所述漫反射光源的光线经过结构光光栅后照射到待测物体上，并在待测物体形成明暗相间的光线形状，所述图像采集模块和图像处理模块连接；所述图像采集模块用于采集待测物体的图像信息，并将采集到的图像信息发送至图像处理模块；所述图像处理模块用于根据图像信息获取光线形状的形状参数，并根据形状参数对待测物体进行缺陷分析。本发明在待测物上照射呈现明暗相间的光线形状后，根据光线形状的形状参数对待测物体进行缺陷分析，能够检测出待测物上的大缺陷和小缺陷，可广泛应用于自动光学检测领域。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 漫反射 结构 表面 缺陷 光学 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种漫反射结构光的表面缺陷光学检测系统，其特征在于，包括图像采集模块、图像处理模块、漫反射光源和结构光光栅，所述漫反射光源的光线经过结构光光栅后照射到待测物体上，并在待测物体形成明暗相间的光线形状，所述图像采集模块和图像处理模块连接；所述图像采集模块用于采集待测物体的图像信息，并将采集到的图像信息发送至图像处理模块；所述图像处理模块用于根据图像信息获取光线形状的形状参数，并根据形状参数对待测物体进行缺陷分析。
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