[发明专利]一种基于概率矩阵溯源的中子背散射塑性地雷成像方法有效

专利信息
申请号: 201910475205.8 申请日: 2019-06-03
公开(公告)号: CN110320564B 公开(公告)日: 2021-02-23
发明(设计)人: 张迎增;曾军;郭小峰;向永春;郝樊华;向清沛;储诚胜;秦义 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01V5/00 分类号: G01V5/00;G01N23/204
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明公开了一种基于概率矩阵溯源的中子背散射塑性地雷成像方法。具体步骤如下:获得系统直射中子对位置灵敏慢热中子探测器的影响因子;测量本底背散射中子对位置灵敏慢热中子探测器的影响因子;对目标区域进行测量,获得目标区域灵敏慢热中子探测器响应分布;修正目标区域直射中子的影响;修正目标区域本底背散射中子的影响;对修正后的数据使用概率矩阵反演成像,获得塑性地雷埋设分布。与传统计数异常判定方法相比,本发明的方法提供了土壤地雷埋设的分布信息,减小探雷工作量的同时提升了探雷的准确度。
搜索关键词: 一种 基于 概率 矩阵 溯源 中子 散射 塑性 地雷 成像 方法
【主权项】:
1.一种基于概率矩阵溯源的中子背散射塑性地雷成像方法,其特征在于,包括以下步骤:a.固定布局,获得系统直射中子对位置灵敏慢热中子探测器的影响因子;b.固定测量参数,测量本底背散射中子对位置灵敏慢热中子探测器的影响因子;c.保持步骤b中的测量参数,对目标区域进行测量,获得目标区域灵敏慢热中子探测器响应分布;d.数据处理Ⅰ,修正目标区域直射中子的影响;e.数据处理Ⅱ,修正目标区域本底背散射中子的影响;f.对修正后的数据进行反演成像。
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