[发明专利]测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法在审
| 申请号： | 201910467929.8 | 申请日： | 2019-05-31 |
| 公开（公告）号： | CN110068503A | 公开（公告）日： | 2019-07-30 |
| 发明（设计）人： | 张智敏;郝艳捧;彭家豪;阳林;王国利;高超;杨芸 | 申请（专利权）人： | 华南理工大学 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08 |
| 代理公司： | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人： | 何淑珍;隆翔鹰 |
| 地址： | 510640 广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法，包括以下步骤：（1）在O形密封圈上截取待测试样；（2）测量待测试样截面受压缩前的截面直径和受压缩恢复后的真实压缩方向截径，本发明所述的测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法在测量过程中，对待测试样的真实压缩方向上的厚度值进行了测量，待测试样在受压恢复后的最小厚度值即为真实压缩方向截径，而现有技术只是测量O形密封圈的表观压缩方向截径，本发明所述方法得到的压缩永久变形准确性高，对O形密封圈的寿命预测具有重要意义。 | ||
| 搜索关键词： | 压缩永久变形 测量 压缩方向 气体绝缘封闭开关 待测试样 截径 测量过程 寿命预测 重要意义 压缩 测试样 截取 受压 恢复 | ||
【主权项】：
1.测量气体绝缘封闭开关用O形密封圈压缩永久变形的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)在O形密封圈上截取待测试样；(2)测量待测试样横截面受压缩前的截面直径d0；(3)对所述待测试样施加压缩和热老化处理；(4)测量待测试样受压缩恢复后的真实压缩方向截径dp1，所述真实压缩方向截径为受压缩恢复后的待测试样截面在受压缩方向上的厚度；给定方向p，作一条直线l⊥p且l与待测试样截面只有一个交点，作另一条直线l′∥l，使l′与待测试样截面轮廓也只有1个交点，定义l与l′之间的距离dp为p方向截径；当dp的值最小时，所述方向p为待测试样的受压缩方向，dp1＝dp，得O形密封圈的压缩永久变形![]()
其中，Hs为测量待测试样截面直径的夹具中的限制器的高度。
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