[发明专利]一种远程精密测量地基垂直位移的装置及方法在审
| 申请号： | 201910455402.3 | 申请日： | 2019-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN110146056A | 公开（公告）日： | 2019-08-20 |
| 发明（设计）人： | 林学春;杨盈莹;杨松;许本有;张勇 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01C5/00 | 分类号： | G01C5/00;G01B11/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 任岩 |
| 地址： | 100083 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种远程精密测量地基垂直位移的装置及方法，该远程精密测量地基垂直位移的装置沿光路依次包括激光光源、第一反射镜、第二反射镜、聚焦透镜和电荷耦合器件，其中：第一反射镜和第二反射镜为45°反射镜，第一反射镜接收由激光光源发射的水平光线，并将该水平光线在水平面上沿顺时针方向改变90°并反射至第二反射镜，第二反射镜将该水平光线在水平面上沿顺时针方向再次改变90°并反射至聚焦透镜，聚焦透镜将该水平光线聚焦至电荷耦合器件的接收屏，在接收屏上得到一光斑，实现屏上成像。本发明提供的一种远程精密测量地基垂直位移的装置及方法，能够精确测量地基垂直方向的位移，降低测量难度。 | ||
| 搜索关键词： | 反射镜 地基 垂直位移 精密测量 水平光线 聚焦透镜 电荷耦合器件 激光光源 接收屏 顺时针 反射 测量 光斑 方向改变 光路 成像 聚焦 发射 | ||
【主权项】：
1.一种远程精密测量地基垂直位移的装置，该装置沿光路依次包括激光光源、第一反射镜、第二反射镜、聚焦透镜和电荷耦合器件，其中：第一反射镜和第二反射镜为45°反射镜，第一反射镜接收由激光光源发射的水平光线，并将该水平光线在水平面上沿顺时针方向改变90°并反射至第二反射镜，第二反射镜将该水平光线在水平面上沿顺时针方向再次改变90°并反射至聚焦透镜，聚焦透镜将该水平光线聚焦至电荷耦合器件的接收屏，在接收屏上得到一光斑，实现屏上成像。
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