[发明专利]基于后向反射器剪切干涉的准直波前测量方法有效
申请号: | 201910384304.5 | 申请日: | 2019-05-09 |
公开(公告)号: | CN110196105B | 公开(公告)日: | 2021-04-02 |
发明(设计)人: | 单小琴;韩志刚;孟令强;陈姝君;周广丽;曹芳;王艳 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学紫金学院 |
主分类号: | G01J9/02 | 分类号: | G01J9/02 |
代理公司: | 南京锐恒专利代理事务所(普通合伙) 32506 | 代理人: | 刘佳伟 |
地址: | 210046 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: |
本发明公开了一种基于后向反射器剪切干涉的准直波前测量方法,该方法中待测准直波前分别经过楔形平板的前后两个表面反射,通过后向反射器返回后在CCD上形成剪切干涉条纹。采用四步相移法求解干涉条纹的相位分布,相位步进量定为 |
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搜索关键词: | 基于 反射 剪切 干涉 准直波前 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于后向反射器剪切干涉的准直波前测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:待测准直波前分别经过楔形平板的前后两个表面反射,通过后向反射器返回后在CCD上形成剪切干涉条纹;步骤2:采用四步相移法求解干涉条纹的相位分布,相位步进量定为
估算形成剪切干涉条纹的两支光束的光程差WOPD(x)的常数分量
以该常量为基础设定可调谐激光器的波长步进以实现移相量的标定;步骤3:采集四幅相位间隔为π/2的干涉图,得到剪切干涉条纹的光程差分布,根据剪切量的大小分别采用积分法或待定系数法测量准直波前。
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