[发明专利]基于后向反射器剪切干涉的准直波前测量方法有效

专利信息
申请号: 201910384304.5 申请日: 2019-05-09
公开(公告)号: CN110196105B 公开(公告)日: 2021-04-02
发明(设计)人: 单小琴;韩志刚;孟令强;陈姝君;周广丽;曹芳;王艳 申请(专利权)人: 南京理工大学紫金学院
主分类号: G01J9/02 分类号: G01J9/02
代理公司: 南京锐恒专利代理事务所(普通合伙) 32506 代理人: 刘佳伟
地址: 210046 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于后向反射器剪切干涉的准直波前测量方法,该方法中待测准直波前分别经过楔形平板的前后两个表面反射,通过后向反射器返回后在CCD上形成剪切干涉条纹。采用四步相移法求解干涉条纹的相位分布,相位步进量定为设定可调谐激光器的波长步进以实现移相量的标定。采集四幅相位间隔为π/2的干涉图,得到剪切干涉条纹的光程差分布,根据剪切量的大小分别采用积分法或待定系数法测量准直波前。本发明简化了传统测量准直波前的横向剪切干涉装置,提高了波面测量精度,特别适合于测量波长调谐系统的出射波前。
搜索关键词: 基于 反射 剪切 干涉 准直波前 测量方法
【主权项】:
1.一种基于后向反射器剪切干涉的准直波前测量方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1:待测准直波前分别经过楔形平板的前后两个表面反射,通过后向反射器返回后在CCD上形成剪切干涉条纹;步骤2:采用四步相移法求解干涉条纹的相位分布,相位步进量定为估算形成剪切干涉条纹的两支光束的光程差WOPD(x)的常数分量以该常量为基础设定可调谐激光器的波长步进以实现移相量的标定;步骤3:采集四幅相位间隔为π/2的干涉图,得到剪切干涉条纹的光程差分布,根据剪切量的大小分别采用积分法或待定系数法测量准直波前。
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