[发明专利]区域日照分析方法、装置、设备和存储介质有效
| 申请号： | 201910376565.2 | 申请日： | 2019-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN110110438B | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 丁伟;刘从丰 | 申请（专利权）人： | 洛阳众智软件科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F30/13 | 分类号： | G06F30/13;G06F111/04 |
| 代理公司： | 北京细软智谷知识产权代理有限责任公司 11471 | 代理人： | 付登云 |
| 地址： | 471000 河南省洛阳市洛阳高新*** | 国省代码： | 河南;41 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种区域日照分析方法、装置、设备和存储介质，该方法包括：获取目标分析区域内的采样点以及遮挡集，遮挡集包括能对目标分析区域产生遮挡的建筑模型集合，建筑模型集合包括预先指定待调整的第一建筑模型和预先指定无需调整的第二建筑模型；计算第一建筑模型调整后的第一日照约束时间集合，和，目标分析区域的初始日照约束时间集合与第二建筑模型的日照约束时间集合的共有时间集合，得到第二日照约束时间集合，初始日照约束时间集合包括目标分析区域没有任何建筑遮挡时各个采样点的日照约束时间集合；计算第一日照约束时间集合和第二日照约束时间集合的共有时间集合，以得到目标日照约束时间集合。提高了建筑模型微调时日照分析的效率。 | ||
| 搜索关键词： | 区域 日照 分析 方法 装置 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种区域日照分析方法，其特征在于，包括：获取目标分析区域内的采样点以及遮挡集，所述遮挡集包括能对所述目标分析区域产生遮挡的建筑模型集合，所述建筑模型集合包括预先指定待调整的第一建筑模型和预先指定无需调整的第二建筑模型；计算所述第一建筑模型调整后的第一日照约束时间集合，以及，所述目标分析区域的初始日照约束时间集合与所述第二建筑模型的日照约束时间集合的共有时间集合，以得到第二日照约束时间集合，其中，所述初始日照约束时间集合包括目标分析区域没有任何建筑遮挡时各个采样点的日照约束时间集合；计算所述第一日照约束时间集合和所述第二日照约束时间集合的共有时间集合，以得到目标日照约束时间集合。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于洛阳众智软件科技股份有限公司，未经洛阳众智软件科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910376565.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
