[发明专利]TR层析扫描投影重排方法及装置有效

专利信息
申请号: 201910376359.1 申请日: 2019-05-07
公开(公告)号: CN110057847B 公开(公告)日: 2020-05-15
发明(设计)人: 杨民;孙亮;宋鑫;林强;吴雅朋 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N23/046 分类号: G01N23/046
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王庆龙;苗晓静
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种TR层析扫描投影重排方法及装置,方法包括:根据物体的TR扫描正弦图确定物体的平行束正弦图的投影区域范围,在投影区域范围内确定平行束正弦图中各未知采样点的坐标;TR扫描正弦图通过使用扇束扫描仪对物体进行扫描获取;对于任一未知采样点,对该未知采样点的坐标进行坐标转换,获取该未知采样点的坐标映射到TR扫描正弦图中的目标坐标位置;对TR扫描正弦图进行插值,获取目标坐标位置的灰度值,将目标坐标位置的灰度值作为该未知采样点的灰度值。本发明根据TR扫描正弦图转换得到的平行束正弦图像更精确,基于平行束正弦图进行CT重建得到的断层图像边缘光滑,没有伪影现象,且在扇束角较大时能实现精确的图像重建。
搜索关键词: tr 层析 扫描 投影 重排 方法 装置
【主权项】:
1.一种TR层析扫描投影重排方法,其特征在于,包括:根据物体的TR扫描正弦图确定所述物体的平行束正弦图的投影区域范围,并在所述投影区域范围内确定所述平行束正弦图中各未知采样点的坐标;其中,所述物体的TR扫描正弦图通过预先使用扇束扫描仪对所述物体进行TR层析扫描获取;对于任一所述未知采样点,对该未知采样点的坐标进行坐标转换,获取该未知采样点的坐标映射到所述TR扫描正弦图中的目标坐标位置;对所述TR扫描正弦图进行插值,获取所述目标坐标位置的灰度值,将所述目标坐标位置的灰度值作为该未知采样点的灰度值。
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