[发明专利]回归测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 201910375342.4 | 申请日： | 2019-05-07 |
| 公开（公告）号： | CN110083543B | 公开（公告）日： | 2022-08-19 |
| 发明（设计）人： | 高杨 | 申请（专利权）人： | 江苏满运软件科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 210012 江苏省南京市*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种回归测试方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：根据录制的流量数据运行正确代码，得到干扰参数和第一回放数据；根据所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码，得到第二回放数据；根据所述第一回放数据和所述第二回放数据确定测试结果。相对于使用人工虚拟的测试数据，由人工进行回归测试，本发明实施例能够录制流量数据，并根据流量数据运行正确代码得到干扰参数和第一回放数据，并根据录制的流量数据和干扰参数对待测试代码进行回归测试，使用线上录制的流量数据进行回归测试能够提高回归测试真实性，由机器完成上述回归测试过程，能够降低人力成本。 | ||
| 搜索关键词： | 回归 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种回归测试方法，其特征在于，包括：根据录制的流量数据运行正确代码，得到干扰参数和第一回放数据；根据所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码，得到第二回放数据；根据所述第一回放数据和所述第二回放数据确定测试结果。
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