[发明专利]回归测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
申请号: | 201910375342.4 | 申请日: | 2019-05-07 |
公开(公告)号: | CN110083543B | 公开(公告)日: | 2022-08-19 |
发明(设计)人: | 高杨 | 申请(专利权)人: | 江苏满运软件科技有限公司 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 210012 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 回归 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种回归测试方法,其特征在于,包括:
根据录制的流量数据运行正确代码,得到干扰参数和第一回放数据;
根据所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据;
根据所述第一回放数据和所述第二回放数据确定测试结果;
所述流量数据包括输入数据、第一过程参数和输出数据;相应的,所述根据录制的流量数据运行正确代码,得到干扰参数和第一回放数据,包括:
根据所述输入数据运行正确代码,获取运行中产生的第二过程参数和第一回放数据;
如果所述输出数据与所述第一回放数据不同,则根据所述第一过程参数和所述第二过程参数确定干扰参数;
相应的,所述根据所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据,包括:
根据所述干扰参数确定第一挡板数据;
根据所述第一挡板数据和所述流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据;
所述干扰参数包括随机数或时间戳。
2.根据权利要求1所述的回归测试方法,其特征在于,所述根据录制的流量数据运行正确代码,得到干扰参数和第一回放数据,包括:
在生产环境下根据录制的流量数据运行正确代码,得到干扰参数和第一回放数据;
相应的,所述根据所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据,包括:
在所述生产环境下根据所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据。
3.根据权利要求1所述的回归测试方法,其特征在于,所述根据录制的流量数据运行正确代码,得到干扰参数和第一回放数据,包括:
在独立环境下根据录制的流量数据运行正确代码,得到干扰参数和第一回放数据;
相应的,所述根据所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据,包括:
在所述独立环境下根据所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据。
4.根据权利要求1所述的回归测试方法,其特征在于,在根据所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据之前,还包括:
获取待测试代码与外部应用的接口数据;
相应的,所述根据所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据,包括:
根据所述接口数据确定第二挡板数据;
根据所述第一挡板数据、所述第二挡板数据和所述流量数据,运行待测试代码,得到第二回放数据。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的回归测试方法,其特征在于,在根据所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据之前,还包括:
对目标应用下的子应用进行重构;
根据重构结果确定待测试代码。
6.一种回归测试装置,其特征在于,包括:
正确代码回放模块,用于根据录制的流量数据运行正确代码,得到干扰参数和第一回放数据;
待测试代码回放模块,用于根据所述正确代码回放模块得到的所述干扰参数和所述流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据;
分析模块,用于根据所述正确代码回放模块得到的所述第一回放数据和所述待测试代码回放模块得到的所述第二回放数据确定测试结果;
流量数据包括输入数据、第一过程参数和输出数据;所述正确代码回放模块用于:根据输入数据运行正确代码,获取运行中产生的第二过程参数和第一回放数据;
如果输出数据与第一回放数据不同,则根据第一过程参数和第二过程参数确定干扰参数;
所述待测试代码回放模块用于:
根据干扰参数确定第一挡板数据;
根据第一挡板数据和流量数据运行待测试代码,得到第二回放数据;
进一步的,干扰参数包括随机数或时间戳。
7.一种电子设备,包括存储器、处理器以及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-5中任一所述的回归测试方法。
8.一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-5中任一所述的回归测试方法。
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