[发明专利]一种高时空分辨软X射线辐射流定量测量系统在审
| 申请号： | 201910372947.8 | 申请日： | 2019-05-06 |
| 公开（公告）号： | CN109975859A | 公开（公告）日： | 2019-07-05 |
| 发明（设计）人： | 刘慎业;杨志文;李晋;谢旭飞;车兴森;胡昕 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
| 主分类号： | G01T1/29 | 分类号： | G01T1/29 |
| 代理公司： | 绵阳山之南专利代理事务所(普通合伙) 51288 | 代理人： | 沈强 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
| 权利要求书： | 暂无信息 | 说明书： | 暂无信息 |
| 摘要： | 本发明公开了一种高时空分辨软X射线辐射流定量测量系统，所述系统被测光源置于两个掠入射X射线显微镜前方，光源发射的X射线分别通过显微镜的两个通道，再经开缝闪烁体、中性衰减片、复合滤片，分别成像于X射线二极管探测器和X射线条纹相机光阴极上，产生光电子，可对X射线辐射流进行高时空分辨测量；与现有技术相比，本发明采用掠入射X射线显微镜代替针孔进行成像,提高了测量系统空间分辨率和灵敏度，条纹相机与X射线二极管探测器对比测量，实现条纹相机对X射线辐射流定量测量,提高了辐射流测量的时间分辨率。本发明可对纳秒脉冲软X射线源辐射的能流进行高时空分辨的定量测量，在脉冲X射线辐射探测领域具有广泛的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 高时空 分辨 条纹相机 定量测量系统 软X射线辐射 定量测量 探测器 入射 成像 测量 针孔 空间分辨率 时间分辨率 中性衰减片 脉冲X射线 软X射线源 测量系统 对比测量 辐射探测 光源发射 纳秒脉冲 辐射流 光阴极 灵敏度 闪烁体 光电子 显微镜 开缝 滤片 能流 光源 复合 辐射 应用 | ||
【主权项】：
1.一种高时空分辨软X射线辐射流定量测量系统，其特征是：包括有两个掠入射反射式X射线显微镜（2）、在线瞄准组件（3）、CMOS相机（4）、开缝或开孔闪烁体（5）、中性衰减片（6）、复合滤片（7）、X射线二极管探测器（8）、X射线条纹相机（9）；被测光源（1）置于掠入射反射式X射线显微镜（2）的前方，被测光源（1）辐射的X射线分两路以掠入射方式进入掠入射反射式X射线显微镜（2），经镜面反射后依次通过开缝或开孔闪烁体（5），中性衰减片（6）和复合滤片（7）后，分别成像于X射线条纹相机（9）和X射线二极管探测器（8）的阴极，产生光电子，并被探测；所述掠入射反射式X射线显微镜（2）对被测光源发射的X射线进行高空间分辨成像；所述复合滤片（7）对X射线二极管探测器（8）和X射线条纹相机（9）的X射线光谱响应进行改造，使两种探测器对X射线的光谱响应平坦，使之适合宽谱范围内的X射线辐射能流测量；所述中性衰减片（6）用于调节进入X射线条纹相机（9）和X射线二极管探测器（8）的X射线辐射流强度，防止探测器输出信号饱和所导致的测量结果不准确；所述开缝或开孔闪烁体（5）用于显示X射线显微镜（2）对被测光源（1）发射的X射线所成的光源图像；所述CMOS相机（4）位于开缝或开孔闪烁体（5）的前方，拍摄开缝或开孔闪烁体（5）显示的X射线光源图像，用于确定X射线条纹相机（9）和X射线二极管探测器（8）所观测的区域；所述X射线条纹相机（9）与X射线二极管探测器（8）对比测量，使得X射线条纹相机（9）具有对X射线辐射流定量测量能力，提高了辐射流测量的时间分辨；所述在线瞄准组件（3）位于测量系统前端，与双通道掠入射反射式X射线显微镜（2）共视场，实现测量系统对被测光源（1）的高精度瞄准；所述两掠入射反射式X射线显微镜（2）共视场。
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