[发明专利]一种快速检测纳米颗粒表面配体含量的方法有效
| 申请号： | 201910363510.8 | 申请日： | 2019-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN110082419B | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 曹成喜;张强;刘伟文;李国庆;刘小平 | 申请（专利权）人： | 上海交通大学 |
| 主分类号： | G01N27/447 | 分类号： | G01N27/447 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 顾艳哲 |
| 地址： | 200030 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种快速检测纳米颗粒表面配体含量的方法，该方法为：设置不含样品的对照组和含待检纳米颗粒的检测组，进行电泳滴定，测定相同时间内对照组和检测组的界面迁移距离，根据界面迁移距离的差值计算检测组的纳米颗粒表面配体含量。与现有技术相比，本发明具有操作流程简便、耗时短、具有可视化且不需要依赖昂贵仪器的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 快速 检测 纳米 颗粒 表面 含量 方法 | ||
【主权项】：
1.一种快速检测纳米颗粒表面配体含量的方法，其特征在于，该方法为：设置不含样品的对照组和含待检纳米颗粒的检测组，进行电泳滴定，测定相同时间内对照组和检测组的界面迁移距离，根据界面迁移距离的差值计算检测组的纳米颗粒表面配体含量。
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