[发明专利]P型全背接触晶硅电池的制作系统及方法在审
申请号: | 201910354995.4 | 申请日: | 2019-04-29 |
公开(公告)号: | CN109980051A | 公开(公告)日: | 2019-07-05 |
发明(设计)人: | 杨洁;郑霈霆;张昕宇;金浩 | 申请(专利权)人: | 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/068 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 314416 浙江*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种P型全背接触晶硅电池的制作系统,利用激光掺杂和烧结过程中第二电极的金属原子的扩散在所述p型晶硅衬底的背面形成多个交替排布的n+掺杂区和p+掺杂区,无需多次掩膜开槽工艺,简化了P型全背接触晶硅电池的制作工艺流程,降低了制作难度系数和制作成本,是一种高效低成本的太阳能电池,便于工业化大规模应用。 | ||
搜索关键词: | 晶硅电池 背接触 制作系统 掺杂区 制作 大规模应用 高效低成本 太阳能电池 第二电极 激光掺杂 交替排布 金属原子 难度系数 烧结过程 工艺流程 衬底 晶硅 开槽 掩膜 背面 扩散 | ||
【主权项】:
1.一种P型全背接触晶硅电池的制作系统,其特征在于,所述制作系统包括:第一沉积设备,所述第一沉积设备用于在p型晶硅衬底的背面形成n型掺杂膜层;所述p型晶硅衬底的正面为绒面;激光掺杂设备,所述激光掺杂设备用于照射所述n型掺杂膜层的设定区域,对所述p型晶硅衬底的设定区域进行n+掺杂,以在所述p型晶硅衬底的背面内形成多个间隔排布n+掺杂区;刻蚀设备,所述刻蚀设备用于去除经过激光照射后的所述n型掺杂膜层;第二沉积设备,所述第二沉积设备用于在去除所述n型掺杂膜层的所述p型晶硅衬底的背面和正面分别沉积钝化减反膜;金属化设备,所述金属化设备用于在所述p型晶硅衬底背面的钝化减反膜上形成第一电极和第二电极,并通过烧结处理使得所述第一电极与所述n+掺杂区欧姆接触,通过所述第二电极对所述n+掺杂区的间隙位置进行p+掺杂,以在形成p型晶硅衬底背面内形成p+掺杂区。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
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