[发明专利]P型全背接触晶硅电池的制作系统及方法在审

专利信息
申请号: 201910354995.4 申请日: 2019-04-29
公开(公告)号: CN109980051A 公开(公告)日: 2019-07-05
发明(设计)人: 杨洁;郑霈霆;张昕宇;金浩 申请(专利权)人: 浙江晶科能源有限公司;晶科能源有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/068
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 314416 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种P型全背接触晶硅电池的制作系统,利用激光掺杂和烧结过程中第二电极的金属原子的扩散在所述p型晶硅衬底的背面形成多个交替排布的n+掺杂区和p+掺杂区,无需多次掩膜开槽工艺,简化了P型全背接触晶硅电池的制作工艺流程,降低了制作难度系数和制作成本,是一种高效低成本的太阳能电池,便于工业化大规模应用。
搜索关键词: 晶硅电池 背接触 制作系统 掺杂区 制作 大规模应用 高效低成本 太阳能电池 第二电极 激光掺杂 交替排布 金属原子 难度系数 烧结过程 工艺流程 衬底 晶硅 开槽 掩膜 背面 扩散
【主权项】:
1.一种P型全背接触晶硅电池的制作系统,其特征在于,所述制作系统包括:第一沉积设备,所述第一沉积设备用于在p型晶硅衬底的背面形成n型掺杂膜层;所述p型晶硅衬底的正面为绒面;激光掺杂设备,所述激光掺杂设备用于照射所述n型掺杂膜层的设定区域,对所述p型晶硅衬底的设定区域进行n+掺杂,以在所述p型晶硅衬底的背面内形成多个间隔排布n+掺杂区;刻蚀设备,所述刻蚀设备用于去除经过激光照射后的所述n型掺杂膜层;第二沉积设备,所述第二沉积设备用于在去除所述n型掺杂膜层的所述p型晶硅衬底的背面和正面分别沉积钝化减反膜;金属化设备,所述金属化设备用于在所述p型晶硅衬底背面的钝化减反膜上形成第一电极和第二电极,并通过烧结处理使得所述第一电极与所述n+掺杂区欧姆接触,通过所述第二电极对所述n+掺杂区的间隙位置进行p+掺杂,以在形成p型晶硅衬底背面内形成p+掺杂区。
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