[发明专利]对位测试键、液晶显示面板及对位组立方法有效
| 申请号： | 201910347511.3 | 申请日： | 2019-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN110147002B | 公开（公告）日： | 2022-04-26 |
| 发明（设计）人： | 唐维;黄建龙 | 申请（专利权）人： | 武汉华星光电技术有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G02F1/1333 |
| 代理公司： | 深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 | 代理人： | 黄威 |
| 地址： | 430079 湖北省武汉市*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 一种对位测试键、液晶显示面板及对位组立方法，包括数个第一测试键以及数个第二测试键，每一所述第一测试键与其所对应的所述第二测试键构成一对对位测试键组，所述第一测试键为标记有刻度的框形图案，所述第二测试键为能被所述第一测试键包围的实心体和由所述实心体的几何中心处分别沿着水平方向和竖直方向分布的刻度指示线组成的图案。 | ||
| 搜索关键词： | 对位 测试 液晶显示 面板 立方 | ||
【主权项】：
1.一种对位测试键，其特征在于，包括数个第一测试键以及数个第二测试键，每一所述第一测试键与其所对应的所述第二测试键构成一对对位测试键组，所述第一测试键为标记有刻度的框形图案，所述第二测试键为能被所述第一测试键包围的实心体和由所述实心体的几何中心处分别沿着水平方向和竖直方向分布的刻度指示线组成的图案。
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