[发明专利]一种流式样品多波长荧光检测方法在审

专利信息
申请号: 201910343195.2 申请日: 2019-04-26
公开(公告)号: CN110057798A 公开(公告)日: 2019-07-26
发明(设计)人: 盖宏伟;田文韬 申请(专利权)人: 江苏师范大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 221000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种流式样品多波长荧光检测方法,包括,使激光经过二向色镜进入物镜镜头后聚焦照射到样品池上;样品池中的荧光样品流经激光焦斑时发射多波长荧光,多波长荧光由聚焦物镜镜头收集后,依次穿过二向色镜、长通滤光片、光栅,在光学成像仪上形成一个零级光斑和若干个一级条纹;根据光学成像仪记录的荧光零级光斑和一级条纹,测量计算荧光样品的各发射光谱和浓度。本发明的方法,仅需一个光学检测器即可实现流式样品的多波长荧光检测,避免了以往使用多个光学检测器造成的仪器体积过大和灵敏度不够高的问题。
搜索关键词: 多波长荧光检测 荧光 流式 光学成像仪 光学检测器 二向色镜 零级光斑 荧光样品 多波长 样品池 条纹 激光 长通滤光片 光栅 发射光谱 聚焦物镜 聚焦照射 物镜镜头 灵敏度 焦斑 测量 穿过 镜头 发射 记录
【主权项】:
1.一种流式样品多波长荧光检测方法,其特征在于,包括以下步骤:S1:使激光经过二向色镜进入物镜镜头后聚焦照射到样品池上;S2:样品池中的荧光样品流经激光焦斑时发射多波长荧光,多波长荧光由聚焦物镜镜头收集后,依次穿过二向色镜、长通滤光片、光栅,在光学成像仪上形成一个零级光斑和若干个一级条纹;S3:根据光学成像仪记录的荧光零级光斑和一级条纹,测量计算荧光样品的各发射光谱和浓度。
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