[发明专利]单粒子闩锁限制电流测试方法、装置和系统有效
| 申请号： | 201910341901.X | 申请日： | 2019-04-26 |
| 公开（公告）号： | CN110045205B | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 张战刚;肖庆中;雷志锋;彭超;何玉娟;来萍;黄云;恩云飞 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 陈金普;曾旻辉 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请涉及一种单粒子闩锁限制电流测试方法、装置和系统。所述方法包括：当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时，以单粒子闩锁维持电流作为待测器件的输入电流的初始值，逐次减小输入电流；记录在各输入电流下、待测器件退出单粒子闩锁效应的所用时长；并根据各输入电流和所用时长，建立待测器件处于当前离子束辐照中的电流时长曲线；获取处于下一种离子束辐照中的待测器件对应的电流时长曲线；根据各电流时长曲线和待测器件的可容忍中断时长，获取待测器件处于各种离子束辐照中对应的极限电流，并将各极限电流中的最小值确认为待测器件的单粒子闩锁限制电流，从而，本申请提高了测试单粒子闩锁限制电流的准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 限制 电流 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
1.一种单粒子闩锁限制电流测试方法，其特征在于，包括以下步骤：当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时，以单粒子闩锁维持电流作为所述待测器件的输入电流的初始值，逐次减小所述输入电流；记录在各所述输入电流下、所述待测器件退出单粒子闩锁效应的所用时长；并根据各所述输入电流和所述所用时长，建立所述待测器件处于当前离子束辐照中的电流时长曲线；获取处于下一种离子束辐照中的所述待测器件对应的电流时长曲线，直至得到所述待测器件处于各种类离子束辐照中的电流时长曲线；根据各所述电流时长曲线和所述待测器件的可容忍中断时长，获取所述待测器件处于各种离子束辐照中对应的极限电流，并将各所述极限电流中的最小值确认为所述待测器件的单粒子闩锁限制电流。
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