[发明专利]单粒子闩锁限制电流测试方法、装置和系统

权利要求书

1.一种单粒子闩锁限制电流测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

当监测到处于当前离子束辐照中的待测器件出现单粒子闩锁效应时，以单粒子闩锁维持电流作为所述待测器件的输入电流的初始值，逐次减小所述输入电流；

记录在各所述输入电流下、所述待测器件退出单粒子闩锁效应的所用时长；并根据各所述输入电流和所述所用时长，建立所述待测器件处于当前离子束辐照中的电流时长曲线；

获取处于下一种离子束辐照中的所述待测器件对应的电流时长曲线，直至得到所述待测器件处于各种类离子束辐照中的电流时长曲线；

根据各所述电流时长曲线和所述待测器件的可容忍中断时长，获取所述待测器件处于各种离子束辐照中对应的极限电流，并将各所述极限电流中的最小值确认为所述待测器件的单粒子闩锁限制电流。

2.根据权利要求1所述的单粒子闩锁限制电流测试方法，其特征在于，确认所述待测器件出现单粒子闩锁效应的步骤，包括：

采集处于当前离子束辐照中的所述待测器件的当前电流和当前输出信号；

若所述当前电流大于正常电流、且所述当前输出信号与正常输出信号不同，则确认所述待测器件出现单粒子闩锁效应；所述正常电流为所述待测器件处于正常工作状态下的电流；所述正常输出信号为所述待测器件处于正常工作状态下输出的信号。

3.根据权利要求2所述的单粒子闩锁限制电流测试方法，其特征在于，

在所述当前输出信号的强度小于所述正常输出信号的强度时，则所述当前输出信号与所述正常输出信号不同；

或

在所述当前输出信号出现信号丢失时，确认所述当前输出信号与所述正常输出信号不同。

4.根据权利要求1所述的单粒子闩锁限制电流测试方法，其特征在于，确认所述待测器件退出单粒子闩锁效应的步骤，包括：

在当前次减小所述待测器件的输入电流时，采集当前次预设时长内的所述待测器件的持续电流和持续输出信号；

若所述持续电流包含正常电流、且所述持续输出信号包含正常输出信号，则所述待测器件退出单粒子闩锁效应，否则进入下一次减小所述待测器件的输入电流。

5.根据权利要求2至4任一项所述的单粒子闩锁限制电流测试方法，其特征在于，所述待测器件的当前电流包括内核电流或I/O引脚电流。

6.根据权利要求2至4任一项所述的单粒子闩锁限制电流测试方法，其特征在于，还包括步骤：

当所述待测器件的当前电流大于预设阈值时，将所述待测器件的输入电流的值减小至零。

7.根据权利要求1至4任一项所述的单粒子闩锁限制电流测试方法，其特征在于，以单粒子闩锁维持电流作为所述待测器件的输入电流的初始值，逐次减小所述输入电流中：

以单粒子闩锁维持电流作为所述待测器件的输入电流的初始值，按照预设间隔逐次减小所述输入电流的值。

8.一种用于执行权利要求1至7任一项所述单粒子闩锁限制电流测试方法的单粒子闩锁限制电流测试系统，其特征在于，包括：

离子束发射设备，所述离子束发射设备用于向待测器件发射离子束；

真空罐，所述真空罐内设有用于安装所述待测器件的测试板；所述测试板与在所述真空罐的侧壁上设置的电源接口和信号接口连接；

电源设备，所述电源设备连接所述电源接口，用于通过所述测试板为所述待测器件提供输入电流，并采集所述待测器件的电流；

信号输入与采集设备，所述信号输入与采集设备连接所述信号接口，用于为所述待测器件提供输入信号，并采集所述待测器件的输出信号；

控制设备，所述控制设备用于分别控制所述电源设备、所述信号输入与采集设备和所述离子束发射设备。