[发明专利]测试方法、测试系统以及电子装置在审
| 申请号： | 201910338233.5 | 申请日： | 2019-04-25 |
| 公开（公告）号： | CN110858782A | 公开（公告）日： | 2020-03-03 |
| 发明（设计）人： | 简青峰 | 申请（专利权）人： | 和硕联合科技股份有限公司 |
| 主分类号： | H04B17/15 | 分类号： | H04B17/15 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 聂慧荃;闫华 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 一种测试方法、测试系统及电子装置。测试系统包括待测装置、电子装置以及微控制器。待测装置包括发光模块。微控制器耦接至电子装置。待测装置读入待测端测试脚本，并且电子装置读入主控端测试脚本。于待测装置中，执行前导程序，借此控制发光模块进行指定次数的开闭，并且在执行完前导程序之后，依序执行各设定程序。于电子装置中，基于自微控制器所读取该发光模块的亮度值来判断待测装置是否已执行完前导程序，并且如判定待测装置已执行完前导程序，执行对应于待测装置所执行的其中一个设定程序的该测试项程序，以自射频装置读取待测装置所发送的射频信号的测量值。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 方法 系统 以及 电子 装置 | ||
【主权项】：
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