[发明专利]用于小角X射线散射测量的X射线检测光学器件在审
申请号: | 201910330448.2 | 申请日: | 2019-04-23 |
公开(公告)号: | CN110398506A | 公开(公告)日: | 2019-11-01 |
发明(设计)人: | 马修·沃明顿;亚瑟·佩莱德;亚历山大·克罗赫马尔 | 申请(专利权)人: | 布鲁克杰维以色列公司 |
主分类号: | G01N23/20008 | 分类号: | G01N23/20008;G01N23/201;G01N23/207;H01J35/14 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 王红英;杨明钊 |
地址: | 以色列米格*** | 国省代码: | 以色列;IL |
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摘要: | 本申请涉及用于小角X射线散射测量的X射线检测光学器件。X射线装置包括支架、X射线源、检测器、致动器和控制器。支架被配置为保持样本。X射线源被配置成朝着样本的第一侧引导X射线的波束。检测器被定位于样本的与第一侧相对的第二侧上,以便接收透射穿过样本的X射线的至少一部分,并输出指示接收到的X射线的强度的信号。致动器被配置成在样本的第二侧上的一定范围的位置上扫描检测器,以便根据散射角来测量透射的X射线。控制器被耦合以接收由检测器输出的信号,并响应于信号而控制致动器,以便相对于检测器在接收到的X射线的强度是强的第二位置处的获取时间来增加检测器在接收到的X射线的强度是弱的第一位置处的获取时间。 | ||
搜索关键词: | 检测器 样本 光学器件 散射测量 控制器 致动器 透射 小角 支架 配置 波束 控制致动器 扫描检测器 第二位置 第一位置 输出指示 耦合 散射角 测量 穿过 输出 响应 申请 | ||
【主权项】:
1.一种X射线装置,包括:支架,所述支架被配置为保持样本;X射线源,所述X射线源被配置成朝着所述样本的第一侧引导X射线的波束;检测器,所述检测器被定位于所述样本的与所述第一侧相对的第二侧上,以便接收透射穿过所述样本的所述X射线的至少一部分,并输出指示接收到的X射线的强度的信号;致动器,所述致动器被配置成在所述样本的所述第二侧上的一定范围的位置上扫描所述检测器,以便根据散射角来测量透射的X射线;以及控制器,所述控制器被耦合以接收由所述检测器输出的信号,并响应于所述信号而控制所述致动器,以便相对于所述检测器在接收到的X射线的强度是强的第二位置处的获取时间来增加所述检测器在接收到的X射线的强度是弱的第一位置处的获取时间。
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