[发明专利]一种散热测试方法及系统和发热装置在审
| 申请号： | 201910292044.9 | 申请日： | 2019-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN111800305A | 公开（公告）日： | 2020-10-20 |
| 发明（设计）人： | 刘发举 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04L12/26 | 分类号： | H04L12/26;H05K7/20 |
| 代理公司： | 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 44287 | 代理人： | 胡海国 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种散热测试方法及系统和发热装置，其中散热测试方法，应用于散热测试系统，该散热测试系统包括发热装置和散热装置，其中，该发热装置包括电源单元、发热单元和温度传感器，该电源单元和该发热单元相连，该方法包括：根据该电源单元输出功率调整该发热单元的发热功率；测量该发热单元的温度；在到达预设温度阈值的情况下，启动散热装置进行散热处理。通过本发明，解决了相关技术中开发过程中芯片散热测试精度低周期长的问题，提升芯片散热测试的精度和测试周期。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 散热 测试 方法 系统 发热 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中兴通讯股份有限公司，未经中兴通讯股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910292044.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
