[发明专利]一种散热测试方法及系统和发热装置

说明书

本发明提供了一种散热测试方法及系统和发热装置，其中散热测试方法，应用于散热测试系统，该散热测试系统包括发热装置和散热装置，其中，该发热装置包括电源单元、发热单元和温度传感器，该电源单元和该发热单元相连，该方法包括：根据该电源单元输出功率调整该发热单元的发热功率；测量该发热单元的温度；在到达预设温度阈值的情况下，启动散热装置进行散热处理。通过本发明，解决了相关技术中开发过程中芯片散热测试精度低周期长的问题，提升芯片散热测试的精度和测试周期。

技术领域

本发明涉及数据网络通信领域，尤其是涉及到一种散热测试方法及系统和发热装置。

背景技术

通信网络高速发展伴随着高流量大带宽的处理要求，对通信设备性能要求越来越高，随之而来的是对芯片的功耗要求也越来越高，芯片和通信设备的散热变得异常重要。目前常规的散热设计，主要就是通过软件仿真，把芯片热耗等参数输入到系统模型中计算，得到芯片仿真计算后的温度值，再对比是否满足芯片温度要求。这种方式存在很多缺陷，比如：第一、仿真精确度不是很高，仿真结果和最终实测数据差距较大，容易造成返工，也即单板PCB和结构重新设计，从而极大影响项目进度和造成成本浪费；第二、仿真模型建立和参数调整，包括不限于器件位置调整，过程繁琐且效率非常低，需要多次修改调整，耗时费力。针对相关技术中开发过程芯片散热测试的精确度低、周期长的问题，现有技术还未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明提供了一种电信设备及单板电源保护方法，解决了相关技术中开发过程中芯片散热测试精度低周期长的问题。

根据本发明的一个方面，提供一种散热测试方法，应用于散热测试系统，该散热测试系统包括发热装置和散热装置，其中，该发热装置包括电源单元、发热单元和温度传感器，该电源单元和该发热单元相连，该方法包括：根据该电源单元输出功率调整该发热单元的发热功率；测量该发热单元的温度；在到达预设温度阈值的情况下，启动散热装置进行散热处理。

进一步，通过控制该电源单元的输出电压调整该发热单元的发热功率。

进一步，该散热装置为风扇，在启动该散热装置进行散热处理之后，该方法还包括：根据测量温度调整该风扇转速。

进一步，该根据测量温度调整该风扇转速包括：在该测量温度升高的情况下，增加该风扇的转速；在该测量温度下降的情况下，维持或降低该风扇的转速。

进一步，该根据测量温度调整该风扇转速包括：通过调整风扇转速信号的频率调整该风扇转速，该风扇转速信号为脉冲信号，该风扇运转一周产生两组脉冲信号。

进一步，在根据测量温度调整该风扇转速之后，该方法还包括：保存发热功率、测量温度与风扇转速之间的对应关系。

根据本发明的另一方面，提供一种散热测试系统，包括发热装置和散热装置，其中，该发热装置包括电源单元、至少一个发热单元和温度传感器，该电源单元和该发热单元相连，该系统包括：该至少一个发热单元，用于根据该电源单元输出功率调整自身的发热功率；该温度传感器，用于测量该发热单元的温度；该散热装置，用于在到达预设温度阈值的情况下，进行散热处理。

进一步，发热单元为陶瓷发热片，通过调整具备不同阻值和/或尺寸的陶瓷发热片模拟不同芯片的发热场景。

根据本发明的另一方面，提供一种发热装置，用于散热测试系统，该发热装置包括电源单元和至少一个发热单元，其特征在于：该电源单元，用于向该至少一个发热单元输出电压或电流；该至少一个发热单元，用于根据该电源单元输出功率调整自身的发热功率。

进一步，发热单元为陶瓷发热片，通过调整具备不同阻值和/或尺寸的陶瓷发热片模拟不同芯片的发热场景。