[发明专利]杂质的荧光检测在审
| 申请号： | 201910276638.0 | 申请日： | 2019-04-08 |
| 公开（公告）号： | CN110346335A | 公开（公告）日： | 2019-10-18 |
| 发明（设计）人： | K·D·鲁博 | 申请（专利权）人： | 维蒂克影像国际无限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 曾琳 |
| 地址： | 加拿大*** | 国省代码： | 加拿大;CA |
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| 摘要： | 本公开内容涉及杂质的荧光检测。公开了一种用于检测杂质在板层中的存在的方法。用荧光指示器标记杂质源。将杂质源与板层分离。提供用于以与荧光指示器发荧光不同的波长照射板层的照射源，以使得板层反射不同波长的光。传感器检测板层的照射和设置在板层上的杂质中包括的荧光指示器。检测从板层反射的光和设置在杂质中的指示器的荧光的差异，从而识别杂质在板层中的存在。 | ||
| 搜索关键词： | 荧光 板层 指示器 荧光检测 杂质源 波长 反射 传感器检测板 指示器标记 照射板 照射源 检测 从板 照射 | ||
【主权项】：
1.一种检测杂质在板层中的存在的方法，包括以下步骤：用荧光指示器标记杂质源；将所述杂质源与所述板层分离；提供照射源以用于照射所述板层，由此所述板层反射与所述荧光指示器发荧光相比不同波长的光；提供传感器以用于检测所述板层的照射和设置于所述板层上的杂质中包括的荧光指示器；以及识别从所述板层反射的光和设置在杂质中的指示器的荧光的差异，从而识别杂质在所述板层中的存在。
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