[发明专利]一种基于干涉成像光谱仪的高精度波长定标方法有效
| 申请号： | 201910248039.8 | 申请日： | 2019-03-29 |
| 公开（公告）号： | CN110017898B | 公开（公告）日： | 2021-01-08 |
| 发明（设计）人： | 李建欣;许逸轩;柏财勋;刘杰 | 申请（专利权）人： | 南京理工大学 |
| 主分类号： | G01J3/45 | 分类号： | G01J3/45;G01J3/28 |
| 代理公司： | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人： | 马鲁晋 |
| 地址： | 210094 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种基于干涉成像光谱仪的高精度波长定标方法，包括以下内容：以某一波长的单色光作为光源，采集干涉条纹图；从干涉条纹图中提取某一行干涉条纹信息构成干涉信号I；对干涉信号I进行扩展获得信号长度为I信号长度M倍的信号I |
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| 搜索关键词： | 一种 基于 干涉 成像 光谱仪 高精度 波长 定标 方法 | ||
【主权项】：
1.一种基于干涉成像光谱仪的高精度波长定标方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1、以单色光作为光源，采集其通过干涉成像光谱仪的干涉条纹图；步骤2、从所述干涉条纹图中提取某一行干涉条纹信息构成干涉信号I；步骤3、对干涉信号I进行扩展获得新信号Ie，所述新信号Ie的长度为干涉信号I长度的M倍；步骤4、获取新信号Ie的频谱强度信息FIe；步骤5、提取频谱强度信息FIe中峰值位置的横坐标Ke，并由Ke和M获取波数位置坐标K；步骤6、以不同波长的单色光分别作为光源，重复上述步骤1～步骤5；步骤7、对所有波长与其对应的波数位置坐标的关系数据进行曲线拟合，由此获得波长定标结果。
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