[发明专利]一种双光子荧光成像方法、系统及图像处理设备有效
申请号: | 201910245483.4 | 申请日: | 2019-03-28 |
公开(公告)号: | CN110006861B | 公开(公告)日: | 2020-05-15 |
发明(设计)人: | 高玉峰;郑炜 | 申请(专利权)人: | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64;G02B21/00 |
代理公司: | 深圳中一专利商标事务所 44237 | 代理人: | 曹小翠 |
地址: | 518000 广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明适用于双光子荧光技术领域,提供一种双光子荧光成像方法、系统及图像处理设备,通过依次对入射的两个脉冲光束进行波前整形,得到在物镜的焦点处的光场为梯度光场的两个光束,并使两个光束的梯度光场的光强分布相反,然后依次通过两个光束对待测样品进行扫描得到两幅图像,并根据两幅图像进行三维数据重建,得到待测样品的三维深度图像,成像速度快、分辨率高且算法简单,易于实现,并且由于成像速度快,有效降低了对待测样品的光损伤和光漂白作用,尤其适用于对胚胎发育样品和神经活动样品进行三维成像。 | ||
搜索关键词: | 一种 光子 荧光 成像 方法 系统 图像 处理 设备 | ||
【主权项】:
1.一种双光子荧光成像方法,其特征在于,应用于双光子荧光成像系统,所述双光子荧光成像方法包括:对入射的第一脉冲光束进行波前整形,得到第一光束;其中,所述第一光束在所述双光子荧光成像系统的物镜的焦点处的光场为第一梯度光场,所述第一梯度光场的光强分布沿z轴呈梯度变化,z轴方向为待测样品的深度方向;通过所述第一光束扫描待测样品,得到第一图像;对入射的第二脉冲光束进行波前整形,得到第二光束;其中,所述第二光束在所述物镜的焦点处的光场为与所述第一梯度光场的光强分布相反的第二梯度光场;通过所述第二光束扫描待测样品,得到第二图像;根据所述第一图像和所述第二图像进行三维数据重建,得到所述待测样品的三维深度图像。
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