[发明专利]无人值守的半导体器件单粒子效应测量方法

摘要

为减少试验人员的负担，实现在低通量环境下对器件多种单粒子效应进行长时间测量，本发明提供了一种无人值守半导体器件单粒子效应测量方法。测量系统包括辐照板、测试板、通信模块、故障诊断及复位模块、远程计算机以及主电源和不间断电源；辐照板用于设置待测半导体器件；测试板与辐照板相连；测试板用于测量、记录、发送单粒子效应数据；测试板中配置有内存卡；故障诊断及复位模块用于对系统进行定时自检及开机自检，并能在监测到故障后，通过重新上电的方式对系统进行复位；监测到系统从断电中恢复供电后，读取内存卡中的配置数据重新配置测试系统，使其继续断电前的测试工作；远程计算机用于对测试板和辐照板进行远程监控。

主权项

1.无人值守半导体器件单粒子效应测量系统，其特征在于：包括辐照板、测试板、通信模块、故障诊断及复位模块、远程计算机以及用于向通信模块、测试板和辐照板供电的主电源和不间断电源；辐照板用于设置n个待测半导体器件，n>0；测试板与辐照板相连；测试板用于实时测量、记录单粒子效应数据，并在通信正常时将所述单粒子效应数据通过通信模块发送给所述远程计算机；测试板中配置有内存卡；通信模块有多种，且可切换使用；所述故障诊断及复位模块用于对单粒子效应测量系统进行定时自检及开机自检，并能在监测到故障后，通过重新上电的方式对系统进行复位；监测到系统从断电中恢复供电后，读取所述内存卡中的配置数据重新配置测试系统，使其继续断电前的测试工作；远程计算机通过多种可切换的通信模块与测试板相连接，对测试板和辐照板进行远程监控。