[发明专利]相控阵微波成像无损检测装置及方法在审
| 申请号： | 201910239445.8 | 申请日： | 2019-03-27 |
| 公开（公告）号： | CN110044933A | 公开（公告）日： | 2019-07-23 |
| 发明（设计）人： | 吴龙飞;武丽丽;鹿启栋;金永乔;钟珂珂;王飞;张小龙 | 申请（专利权）人： | 上海航天精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N22/02 | 分类号： | G01N22/02 |
| 代理公司： | 上海段和段律师事务所 31334 | 代理人： | 李佳俊;郭国中 |
| 地址： | 201600*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种相控阵微波成像无损检测装置及方法，包括：计算机、微波源、功率放大器、功率分配器、控制器、阵列天线、馈线、信号采集与处理器、变位机；计算机分别与控制器、信号采集与处理器、变位机连接；所述计算机包括一个检测模块，所述检测模块提供扫描控制参数，计算机将检测模块提供的扫描控制参数发送至控制器；控制器根据接收到的控制参数，控制微波源产生微波信号，微波源将微波信号传输至功率放大器。本发明所述的一种微波相控阵无损检测装置及方法相比于传统的方法，具有精度高、效率高、可实时成像等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 控制器 无损检测装置 检测模块 微波源 扫描控制参数 计算机 功率放大器 相控阵微波 信号采集 变位机 处理器 成像 微波信号传输 功率分配器 控制参数 实时成像 微波信号 阵列天线 传统的 相控阵 馈线 微波 发送 | ||
【主权项】：
1.一种相控阵微波成像无损检测装置，其特征在于，包括：计算机、微波源、功率放大器、功率分配器、控制器、阵列天线、馈线、信号采集与处理器、变位机；计算机分别与控制器、信号采集与处理器、变位机连接；所述计算机包括一个检测模块，所述检测模块提供扫描控制参数，计算机将检测模块提供的扫描控制参数发送至控制器；控制器根据接收到的控制参数，控制微波源产生微波信号，微波源将微波信号传输至功率放大器；检测模块提供变位指令，计算机将检测模块提供的变位指令发送至控制器；控制器根据接收到的变位指令，控制变位机调整被检测的工件的位置及角度；功率放大器根据接收的微波信号，对微波信号进行功率放大，并将放大后的微波信号传输至功率分配器；功率分配器根据接收的放大后对的微波信号，将放大后的微波信号分成数量不小于阵列天线的阵列单元数量的功率分量，并将各个功率分量传输至阵列天线的各个阵列单元，各个阵列单元根据接收的功率分量发射微波；信号采集与处理器接收微波信号扫描被检测的工件后形成的回波信号，并传输至计算机；软件模块根据接收的回波信号，生成微波相控阵成像图。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海航天精密机械研究所，未经上海航天精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910239445.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
