[发明专利]存储模块的测试方法及系统有效
申请号: | 201910234712.2 | 申请日: | 2019-03-26 |
公开(公告)号: | CN109903803B | 公开(公告)日: | 2021-04-27 |
发明(设计)人: | 冯杰;张坤 | 申请(专利权)人: | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 俞涤炯 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了存储模块的测试方法及系统,属于通信技术领域。本发明对获取待测存储模块数据信号的信息进行判断,以避免时序问题,再进一步对待测存储模块进行读写操作,获取数据信号的窗口位置信息,调节采样时钟使数据信号的有效窗口最大,从而自动快速的对存储模块进行测试的目的,提高了测试效率。 | ||
搜索关键词: | 存储 模块 测试 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种存储模块的测试方法,其特征在于,包括下述步骤:S1.获取所述待测存储模块数据信号的信息;S2.判断所述信息是否符合预设条件,若否,生成所述待测存储模块异常的消息;若是,执行步骤S3;S3.对所述待测存储模块进行读写操作,获取所述数据信号的窗口位置信息,调节采样时钟使所述数据信号的有效窗口最大。
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