[发明专利]动态力学性能测量装置、测量方法及计算设备在审
| 申请号： | 201910217254.1 | 申请日： | 2019-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN109916743A | 公开（公告）日： | 2019-06-21 |
| 发明（设计）人： | 杨山伟;马俊杰;卢元达;翟明 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方光电科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/30 | 分类号： | G01N3/30;G01N3/32;G01N21/25 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 刘伟;曹娜 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种动态力学性能测量装置、测量方法及计算设备。该装置包括同轴设置的第一杆和第二杆，其中待测材料试样能够被夹设于第一杆与第二杆之间；两个光学输出系统，分别用于输出呈预设角度的两路正交线偏振光，其中的一光学输出系统所输出的两路正交线偏振光入射至所述第一杆的第一位置点，且经第一位置点反射后的反射光朝同一方向传输；另一光学输出系统所输出的两路正交线偏振光入射至第二杆的第二位置点，且经所述第二位置点反射后的反射光朝同一方向传输；光学探测器，用于分别获取经所述第一位置点反射的反射光的第一光学信息以及经所述第二位置点反射的反射光的第二光学信息。采用该装置能够准确地测量获得材料的动态力学性能。 | ||
| 搜索关键词： | 反射光 反射 动态力学性能 光学输出系统 正交线偏振光 第二位置 第一位置 两路 测量装置 光学信息 计算设备 同一方向 测量 入射 输出 光学探测器 传输 待测材料 同轴设置 夹设 预设 | ||
【主权项】：
1.一种动态力学性能测量装置，其特征在于，包括：同轴设置的第一杆和第二杆，其中待测材料试样能够被夹设于所述第一杆与所述第二杆之间；两个光学输出系统，分别用于输出呈预设角度的两路正交线偏振光，其中的一光学输出系统所输出的两路正交线偏振光入射至所述第一杆的第一位置点，且经所述第一位置点反射后的反射光朝同一方向传输；另一光学输出系统所输出的两路正交线偏振光入射至所述第二杆的第二位置点，且经所述第二位置点反射后的反射光朝同一方向传输；光学探测器，用于分别获取经所述第一位置点反射的反射光的第一光学信息以及经所述第二位置点反射的反射光的第二光学信息。
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