[发明专利]一种监测次临界反应堆反应性的方法有效
| 申请号： | 201910201201.0 | 申请日： | 2019-03-18 |
| 公开（公告）号： | CN109903866B | 公开（公告）日： | 2020-12-22 |
| 发明（设计）人： | 刘洋;罗皇达;朱庆福;周琦;梁淑红;王藩 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G21C17/104 | 分类号： | G21C17/104;G21C17/108 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明涉及一种监测次临界反应堆反应性的方法，在反应堆的两处不同位置放置中子探测器用于获取中子计数率，用两个探测器记录到的中子计数率的比值C来表征中子通量密度空间分布形状的特征参数；逐渐改变反应堆的反应性，并记录同一时刻的中子计数率的比值C和有效增殖系数k |
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| 搜索关键词： | 一种 监测 临界 反应堆 反应 方法 | ||
【主权项】：
1.一种监测次临界反应堆反应性的方法，其特征在于：在反应堆的两处不同位置放置中子探测器用于获取中子计数率，用两个所述中子探测器记录到的中子计数率的比值C来表征中子通量密度空间分布形状的特征参数；逐渐改变反应堆的反应性，并记录同一时刻的中子计数率的比值C和有效增殖系数keff；建立坐标系，通过所记录的各个时刻中子计数率的比值C与有效增殖系数keff拟合出C与keff的刻度曲线图；在实际监测次临界反应堆的反应性时，实时记录两个所述中子探测器的中子计数率，得到二者的比值，并将其代入制成的刻度曲线图中，即可得到此时反应堆的有效增殖系数。
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