[发明专利]在不在判定方法、非瞬时性记录介质、传感器处理系统及传感器系统在审
| 申请号： | 201910171056.6 | 申请日： | 2019-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN110236556A | 公开（公告）日： | 2019-09-17 |
| 发明（设计）人： | 山冈胜;田中聪明;增田健司;高桥敦;市川英彦 | 申请（专利权）人： | 松下电器（美国）知识产权公司 |
| 主分类号： | A61B5/11 | 分类号： | A61B5/11;A61B5/0205;A61B8/00 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 林娜;段承恩 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本公开提供一种在不在判定方法、非瞬时性记录介质、传感器处理系统及传感器系统，传感器处理系统(3)具备取得部(31)、时序分析部(301)以及判定部(302)。取得部(31)从测定部(2)取得测定数据。测定部(2)测定物理量，所述物理量的值根据对象区域中人的存在与否而变化。时序分析部(301)求出用在预定的时机之前取得的多个测定数据表示在预定的时机取得的测定数据的时序分析的分析模型。判定部(302)基于包含与分析模型的系数相关的条件的判定条件判定在预定的时机人的存在与否。 | ||
| 搜索关键词： | 传感器处理系统 测定数据 时序分析 物理量 判定 传感器系统 分析模型 判定部 时机 对象区域 判定条件 | ||
【主权项】：
1.一种在不在判定方法，包括：取得处理，从测定物理量的测定部取得测定数据，所述物理量的值根据对象区域中人的存在与否而变化；时序分析处理，求出用在预定的时机之前取得的多个所述测定数据表示在所述预定的时机取得的所述测定数据的时序分析的分析模型；以及判定处理，基于包含与所述分析模型的系数相关的条件的判定条件判定在所述预定的时机人的存在与否。
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