[发明专利]一种太赫兹频率的测量装置及方法有效

专利信息
申请号: 201910139269.0 申请日: 2019-02-26
公开(公告)号: CN109738077B 公开(公告)日: 2023-10-27
发明(设计)人: 肖后秀;韩小涛;祁欣;王振兴;李亮;潘垣 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01J9/00 分类号: G01J9/00
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 廖盈春;曹葆青
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种太赫兹波频率的测量装置及方法,测量装置包括:脉冲磁体、脉冲电源模块、波导管、信号采集模块和信号处理模块;脉冲磁体用于给样品的自旋电子提供自旋频率的背景磁场;脉冲电源模块用于给脉冲磁体提供电流;波导管用于为太赫兹波传输提供通路;信号采集模块用于探测所述背景磁场的大小以及信号源经过所述样品被吸收后的功率变化;信号处理模块用于对采集的信号进行处理后获得被测信号的太赫兹波频率。本发明由于测量原理是基于物理效应,所以不受电子测量器件的限制,与混频外差法相比其测量频带宽,能够取得测量范围覆盖整个狭义太赫兹波频段的有益效果;与光学中的干涉法相比,由于不受被测信号具有相干性的限制,能够取得同时测量多个信号频率的有益效果。
搜索关键词: 一种 赫兹 频率 测量 装置 方法
【主权项】:
1.一种太赫兹波频率的测量装置,其特征在于,包括:脉冲磁体、脉冲电源模块、波导管、信号采集模块和信号处理模块;所述脉冲磁体用于给样品的自旋电子提供自旋频率的背景磁场;所述脉冲电源模块用于给所述脉冲磁体提供电流;所述波导管用于为太赫兹波传输提供通路;所述信号采集模块用于探测所述背景磁场的大小以及信号源经过所述样品被吸收后的功率变化;所述信号处理模块用于对采集的信号进行处理后获得被测信号的太赫兹波频率。
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