[发明专利]用于光学地测量距离的方法和设备有效
申请号: | 201910137567.6 | 申请日: | 2019-02-25 |
公开(公告)号: | CN110187360B | 公开(公告)日: | 2023-09-05 |
发明(设计)人: | 植野晶文;高井勇 | 申请(专利权)人: | 株式会社电装 |
主分类号: | G01S17/931 | 分类号: | G01S17/931;G01S17/48 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 杨铁成;杨林森 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明公开了用于光学地测量距离的方法和设备。在该设备中,光接收元件中的每一个基于来自测量空间的返回光的相应强度来输出强度信号。返回光包括基于目标对象对测量光的反射而反射的反射光。识别单元根据相应光接收元件的强度信号来识别光检测区域中的光接收区域。光接收区域基于多个光接收元件中的指定光接收元件。指定光接收元件被布置成接收反射光。距离测量单元根据由指定光接收元件接收的强度信号来测量目标对象的距离。 | ||
搜索关键词: | 用于 光学 测量 距离 方法 设备 | ||
【主权项】:
1.一种用于执行光学地测量目标对象的距离的测量任务的设备,所述设备包括:光发射单元,其被配置成执行测量光至所述目标对象所位于的预定测量空间的发射;光接收单元,在其光检测区域中包括来自所述测量空间的返回光入射至的多个光接收元件,所述多个光接收元件中的每一个被配置成基于所述返回光的相应强度来输出强度信号,所述返回光包括基于所述目标对象对所述测量光的反射而反射的反射光;识别单元,其被配置成根据所述多个相应光接收元件的所述强度信号来识别所述光检测区域中的光接收区域,所述光接收区域基于所述多个光接收元件中的指定光接收元件,所述指定光接收元件被布置成接收所述反射光;以及距离测量单元,其被配置成根据由所述指定光接收元件接收的所述强度信号来测量所述目标对象的距离。
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