[发明专利]红外线光谱仪在审
申请号: | 201910104846.2 | 申请日: | 2019-02-01 |
公开(公告)号: | CN110108361A | 公开(公告)日: | 2019-08-09 |
发明(设计)人: | 张兆宏;何志铭;梁俊智;赖俊铭;黄兆辉;康桀侑 | 申请(专利权)人: | 亿光电子工业股份有限公司 |
主分类号: | G01J3/42 | 分类号: | G01J3/42;G01N21/35 |
代理公司: | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 聂慧荃;郑特强 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种红外光谱仪,包括光源、透镜阵列及衰减阵列。光源用于发出红外线。透镜阵列包括多个以阵列排布的透镜单元。衰减阵列包括多个以阵列排布衰减单元,衰减单元能够吸收或反射具有第一指定波长的红外线,多个衰减单元具有至少两个不同的厚度。其中,透镜阵列位于光源与衰减阵列之间,红外线依次穿透透镜阵列和衰减阵列。 | ||
搜索关键词: | 衰减阵列 透镜阵列 衰减单元 红外线 光源 阵列排布 红外线光谱仪 红外光谱仪 透镜单元 波长 反射 穿透 吸收 | ||
【主权项】:
1.一种红外光谱仪,包括:光源,用于发出红外线;透镜阵列,包括多个以阵列排布的透镜单元;以及衰减阵列,包括多个以阵列排布衰减单元,衰减单元能够吸收或反射具有第一指定波长的红外线,多个衰减单元具有至少两个不同的厚度;其中,透镜阵列位于光源与衰减阵列之间,红外线依次穿透透镜阵列和衰减阵列。
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