[发明专利]微波瑞利散射测定流注放电电离波头时变电子密度装置在审
申请号: | 201910090618.4 | 申请日: | 2019-01-30 |
公开(公告)号: | CN109688687A | 公开(公告)日: | 2019-04-26 |
发明(设计)人: | 陈兆权;王季;涂一烺;张煌;吴金芳;张明 | 申请(专利权)人: | 安徽工业大学 |
主分类号: | H05H1/00 | 分类号: | H05H1/00 |
代理公司: | 合肥顺超知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 34120 | 代理人: | 周发军 |
地址: | 243002 *** | 国省代码: | 安徽;34 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了等离子体电子密度测量技术领域的微波瑞利散射测定流注放电电离波头时变电子密度装置,包括控制板、信号源、示波器,待测量的等离子体在发射天线与接收天线之间发生瑞利散射,接收天线和第二功放相连后接到I/Q混频器的RF接口,I/Q混频器输出两路时变电压信号,并通过信号放大器放大后得到两路正交信号I与Q,示波器采集两路正交信号I与Q,通过示波器上的两路时变电压信号计算等离子体密度的时变特性。本发明采用非直接接触方式测量等离子体密度,提高了等离子体密度测量的有效性和真实性;适用范围更广,可以测量1011cm‑3以上的流注放电等离子体的电子密度,对等离子体放电的扰动小,具有极大的实用价值。 | ||
搜索关键词: | 两路 等离子体 瑞利散射 示波器 时变电压信号 接收天线 密度测量 密度装置 正交信号 电离 放电 波头 时变 微波 测量 测量等离子体 等离子体电子 等离子体放电 放电等离子体 非直接接触 信号放大器 发射天线 时变特性 控制板 信号源 扰动 功放 真实性 放大 采集 输出 | ||
【主权项】:
1.微波瑞利散射测定流注放电电离波头时变电子密度装置,包括控制板(1)、信号源(2)、示波器(11),所述控制板(1)分别为所述信号源(2)提供触发信号并为所述示波器(11)输出采集触发信号,其特征在于:所述信号源(2)产生微波信号且微波信号依次经过前置功放(3)、第一功放(4)及功分器(7),所述功分器(7)分别与发射天线(9)和I/Q混频器(13)LO接口连接,接收天线(10)接收微波信号传至第二功放(12);待测量的等离子体(6)在发射天线(9)与接收天线(10)之间发生瑞利散射,接收天线(10)和第二功放(12)相连后接到I/Q混频器(13)的RF接口,I/Q混频器(13)输出两路时变电压信号,并通过信号放大器(14)放大后得到两路正交信号I与Q,示波器(11)采集两路正交信号I与Q,通过示波器(11)上的两路时变电压信号计算等离子体(6)密度的时变特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于安徽工业大学,未经安徽工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201910090618.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。