[发明专利]一种柱透镜变换的激光粒度测试方法在审
| 申请号： | 201910071693.6 | 申请日： | 2019-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN109520898A | 公开（公告）日： | 2019-03-26 |
| 发明（设计）人： | 魏永杰;车进超;马宝强 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300401 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种柱透镜变换的激光粒度测试方法。解决前向小角度激光衍射颗粒粒度分布测量中，使用通用型线性阵列的光电探测器件接收信号困难的问题。由激光器(1)发出的光经扩束准直后成为圆形平行光，照射在颗粒样品(2)区域，颗粒对光发生衍射。颗粒的衍射光由柱透镜(3)作为接收透镜，实现傅立叶变换，从而在柱透镜的焦平面上形成角分布。将光电探测器阵列(4)放在柱透镜的焦平面上，采集颗粒的衍射角分布信号并传输到计算机进行处理，得到颗粒粒度分布。由于入射平行光的像斑在柱透镜的焦平面会聚成一条直线，而不是球透镜焦平面上的会聚点，因此强度低，处理方便，从而对探测颗粒衍射光有利。颗粒衍射信号经柱透镜变换后，用通用型线性阵列光电探测器进行接收。 | ||
| 搜索关键词： | 柱透镜 焦平面 激光粒度 颗粒粒度 线性阵列 平行光 通用型 衍射光 衍射 光电探测器阵列 光电探测器件 傅立叶变换 光电探测器 测试 分布测量 分布信号 角度激光 接收透镜 颗粒样品 衍射信号 激光器 会聚点 角分布 球透镜 衍射角 扩束 前向 入射 会聚 照射 探测 采集 传输 计算机 | ||
【主权项】：
1.一种柱透镜变换的激光粒度测试方法，其特征在于该方法涉及的硬件包括激光器(1)、颗粒样品(2)、接收柱透镜(3)、光电探测器阵列(4)。具体测量方法如下：由激光器发出的光经扩束准直后成为圆形平行光，照射在颗粒样品区域，颗粒对光发生衍射。颗粒的衍射光由柱透镜作为接收透镜，实现傅立叶变换，从而在柱透镜的焦平面上形成角分布。将光电探测器阵列放在柱透镜的焦平面上，采集颗粒衍射的角分布信号并传输到计算机进行处理，得到颗粒粒度分布。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于河北工业大学，未经河北工业大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201910071693.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
