[发明专利]一种柱透镜变换的激光粒度测试方法在审
| 申请号： | 201910071693.6 | 申请日： | 2019-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN109520898A | 公开（公告）日： | 2019-03-26 |
| 发明（设计）人： | 魏永杰;车进超;马宝强 | 申请（专利权）人： | 河北工业大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 300401 天津*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 柱透镜 焦平面 激光粒度 颗粒粒度 线性阵列 平行光 通用型 衍射光 衍射 光电探测器阵列 光电探测器件 傅立叶变换 光电探测器 测试 分布测量 分布信号 角度激光 接收透镜 颗粒样品 衍射信号 激光器 会聚点 角分布 球透镜 衍射角 扩束 前向 入射 会聚 照射 探测 采集 传输 计算机 | ||
【权利要求书】：
1.一种柱透镜变换的激光粒度测试方法，其特征在于该方法涉及的硬件包括激光器(1)、颗粒样品(2)、接收柱透镜(3)、光电探测器阵列(4)。具体测量方法如下：
由激光器发出的光经扩束准直后成为圆形平行光，照射在颗粒样品区域，颗粒对光发生衍射。颗粒的衍射光由柱透镜作为接收透镜，实现傅立叶变换，从而在柱透镜的焦平面上形成角分布。将光电探测器阵列放在柱透镜的焦平面上，采集颗粒衍射的角分布信号并传输到计算机进行处理，得到颗粒粒度分布。
2.根据权利要求1所述的柱透镜变换的激光粒度测试方法，其特征在于用柱透镜作为接收透镜，进行衍射光的傅立叶变换。
3.根据权利要求1、2所述的柱透镜变换的激光粒度测试方法，其特征在于在前向小角度采集信号，该信号是柱透镜变换后的颗粒衍射的角分布信号。
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