[发明专利]检测液晶WRGB屏光学性能的方法有效
| 申请号： | 201910068331.1 | 申请日： | 2019-01-24 |
| 公开（公告）号： | CN109752869B | 公开（公告）日： | 2021-05-28 |
| 发明（设计）人： | 黎志强 | 申请（专利权）人： | 四川长虹电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13;G01M11/02 |
| 代理公司： | 成都虹桥专利事务所(普通合伙) 51124 | 代理人： | 吴中伟 |
| 地址： | 621000 四*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明涉及液晶显示领域，其公开了一种检测液晶WRGB屏光学性能的方法，有利于后期画质调试和提升整机的主观效果。本发明通过对测试信号的输入控制，分别形成只有R、G、B子像素点亮的RGB白场和只有W子像素点亮的W白场，并分别检测RGB白场的色坐标和亮度值，以及W白场的色坐标和亮度值；通过比较RGB白场的色坐标与W白场的色坐标的差值与预设色坐标差值的阈值，并比较RGB白场的亮度值与W白场的亮度值的差值与预设亮度差值的阈值，从而判定WRGB屏在RGB白场和W白场的差异上是否满足性能要求。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 液晶 wrgb 光学 性能 方法 | ||
【主权项】：
1.检测液晶WRGB屏光学性能的方法，其特征在于，包括以下步骤：a.向WRGB屏输入测试信号，仅点亮R、G、B子像素点，形成RGB白场；b.测试RGB白场的色坐标以及亮度值并记录；c.向WRGB屏输入测试信号，仅点亮W子像素点，形成W白场；d.测试W白场的色坐标以及亮度值并记录；e.对比RGB白场的色坐标和W白场的色坐标，获得色坐标差值；f.对比RGB白色的亮度值和W白场的亮度值，获得亮度差值；g.根据所述色坐标差值和亮度差值判断WRGB屏光学性能是否合格。
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