[发明专利]一种可同时测量太阳总辐射和散射辐射的测量仪及方法在审

专利信息
申请号: 201910063825.0 申请日: 2019-01-23
公开(公告)号: CN109682466A 公开(公告)日: 2019-04-26
发明(设计)人: 边宇;马源;郑锦泽 申请(专利权)人: 华南理工大学
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G01J1/04;G01J1/06
代理公司: 广州市华学知识产权代理有限公司 44245 代理人: 蔡克永
地址: 510640 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明公开了一种可同时测量太阳总辐射和散射辐射的测量仪及方法;包括兼做壳体的基座、内嵌在基座上的圆底盘、半圆形遮阳环带,以及位于在基座内的控制器;半圆形遮阳环带的两端分别对称固定在圆底盘的边缘;圆底盘上开设有数个结构相同的通光圆孔,在各通光圆孔的下方均对应设有一个光辐照度探头;光辐照度探头与主控制器连接;光辐照度探头将各其采集的照度数据传递给控制器,并通过基座上的数据接口输出。本测量仪各个光辐照度探头采集当前时间当前位置环境的光照参数等,控制器自动采集、处理、输出光辐射量,无需手动设置,不仅有效解决家用难以安装的问题,还具有技术手段简便易行等优点,可应用在狭窄的地区上。
搜索关键词: 光辐照度 探头 控制器 测量仪 圆底盘 测量太阳 散射辐射 通光圆孔 环带 遮阳 采集 度数 对称固定 光辐射量 光照参数 技术手段 手动设置 数据接口 位置环境 有效解决 主控制器 自动采集 输出 辐射 壳体 内嵌 狭窄 应用
【主权项】:
1.一种可同时测量太阳总辐射和散射辐射的测量仪,其特征在于:包括兼做壳体的基座(4)、内嵌在基座(4)上的圆底盘(2)、半圆形遮阳环带(1),以及位于在基座(4)内的控制器;所述半圆形遮阳环带(1)的两端分别对称固定在圆底盘(2)的边缘;所述圆底盘(2)上开设有数个结构相同的通光圆孔(5),在各通光圆孔(5)的下方均对应设有一个光辐照度探头(3);所述光辐照度探头(3)与控制器连接;光辐照度探头(3)将各其采集的照度数据传递给控制器,并通过基座(4)上的数据接口(6)输出。
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