[发明专利]一种集成电路测试座的探针脚测试装置在审
申请号: | 201910063646.7 | 申请日: | 2019-01-23 |
公开(公告)号: | CN109581132A | 公开(公告)日: | 2019-04-05 |
发明(设计)人: | 张朝霖;冼贞明 | 申请(专利权)人: | 张朝霖 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 | 代理人: | 孟旭彤 |
地址: | 上海市嘉定区马*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明一种集成电路测试座的探针脚测试装置,其包括主控工作站、总线信号介面板、本地总线解码控制模块、承载组件、交流测试模块、直流电性测量驱动模块、信号开关矩阵以及ZIF信号连接器;承载组件包括测试基板、测试载板以及测试脚座;测试基板上设置有测试点,测试点通过ZIF信号连接器与信号开关矩阵连接;交流测试模块、直流电性测量驱动模块以及信号开关矩阵分别通过本地总线接口与本地总线解码控制模块连接;交流测试模块、直流电性测量驱动模块还分别与所述信号开关矩阵连接。本发明通过主控工作站、总线信号介面板、本地总线解码控制模块、承载组件、交流测试模块、信号开关矩阵以及直流电性测量驱动模块的设计,便于人们维修更换。 | ||
搜索关键词: | 信号开关 直流电 交流测试 驱动模块 矩阵 解码控制模块 承载组件 总线 测量 集成电路测试 信号连接器 主控工作站 测试基板 测试装置 矩阵连接 总线信号 测试点 介面板 探针 测试脚座 测试载板 维修更换 总线接口 | ||
【主权项】:
1.一种集成电路测试座的探针脚测试装置,其特征在于,所述集成电路测试座的探针脚测试装置包括用于按照预设规则生成控制指令的主控工作站、用于将PCI‑E信号处理成低速本地总线信号的总线信号介面板、与所述总线信号介面板连接的本地总线解码控制模块、用于承载待测试集成电路测试座的承载组件、用于探针脚的交流性能测试的交流测试模块、用于探针脚的直流电性测量的直流电性测量驱动模块、用于控制测试探针脚的测试信号的信号开关矩阵以及ZIF信号连接器;所述承载组件包括测试基板、用于承载集成电路测试座的测试载板以及用于承载集成电路测试座的探针脚的测试脚座;所述测试基板上设置有与所述待测试的集成电路测试座的探针脚相对应的测试点,所述测试点通过所述ZIF信号连接器与所述信号开关矩阵连接;所述交流测试模块、直流电性测量驱动模块以及信号开关矩阵分别通过本地总线接口与所述本地总线解码控制模块连接;所述交流测试模块、直流电性测量驱动模块还分别与所述信号开关矩阵连接。
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