[发明专利]光学系统的调试装置及其调试方法在审
| 申请号： | 201910044369.5 | 申请日： | 2019-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN109813531A | 公开（公告）日： | 2019-05-28 |
| 发明（设计）人： | 张璟;邱伟;仇荣生 | 申请（专利权）人： | 上海湓江信息科技有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02;G02B27/00 |
| 代理公司： | 上海启核知识产权代理有限公司 31339 | 代理人： | 田嘉嘉 |
| 地址： | 201100 上海市闵行*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种光学系统的调试装置及调试方法，包括：光学平台、位于光学平台上待测的光学系统及探测器阵列；平行光管、位于平行光管上方的目标物、光源；控制平台，与光学平台、探测器阵列连接，并用于控制光学平台与探测器阵列；调节光学平台将无穷远的目标物成像到探测器，所述目标物为亮度均匀分布的直线；将光学系统调到最接近探测器阵列的离焦位置，进行图像采集；逐步移动光学系统远离探测器阵列，通过聚焦位置直到另一侧离焦位置，在每个适当的位置进行图像采集，获得光学系统的一系列图形；对系列图像进行成像能力分析，确定光学系统的最佳成像精度。 | ||
| 搜索关键词： | 光学系统 光学平台 探测器阵列 目标物 调试装置 离焦位置 平行光管 图像采集 成像 调试 移动光学系统 接近探测器 一系列图形 成像能力 聚焦位置 控制平台 亮度均匀 系列图像 无穷远 探测器 光源 分析 | ||
【主权项】：
1.一种光学系统的调试方法，其特征在于，包括：调节光学平台将无穷远的目标物成像到探测器阵列，所述目标物为亮度均匀分布的直线；将所述光学系统调到最接近探测器阵列的离焦位置，进行图像采集；逐步移动所述光学系统远离探测器阵列，所述光学系统依次通过聚焦位置至另一侧离焦位置，同步进行图像采集，获得所述目标物的系列图像；对所述系列图像进行成像能力分析，确定光学系统的最佳成像精度。
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