[发明专利]透镜测量装置及透镜测量方法有效
申请号: | 201910020833.7 | 申请日: | 2019-01-09 |
公开(公告)号: | CN110030962B | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
发明(设计)人: | 大森义幸 | 申请(专利权)人: | 株式会社三丰 |
主分类号: | G01B21/04 | 分类号: | G01B21/04 |
代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇;张会华 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供透镜测量装置及透镜测量方法。透镜测量装置(1)包括:工作台(20),其能够绕旋转轴线(Cr)旋转;透镜保持件(50),其用于保持作为测量对象的透镜(L),并能够以透镜(L)的光轴与旋转轴线(Cr)正交的方式载置于工作台(20);触头(43),其用于与透镜(L)的测量面接触;角度传感器,其用于检测工作台(20)的旋转角度;位移检测部(42),其用于检测触头(43)的位移;以及控制装置(60),其根据工作台(20)的每个旋转角度所对应的触头(43)的位移量计算透镜(L)的测量面的坐标信息作为以旋转轴线(Cr)为原点的极坐标,将计算出的极坐标变换为正交坐标。 | ||
搜索关键词: | 透镜 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种透镜测量装置,其特征在于,该透镜测量装置包括:工作台,其能够绕旋转轴线旋转;透镜保持件,其用于保持作为测量对象的透镜,并能够以所述透镜的光轴与所述旋转轴线正交的方式载置于所述工作台;触头,其用于与所述透镜的表面中的透镜测量面接触;角度传感器,其用于检测所述工作台的旋转角度;位移检测部,其用于检测所述触头的位移;以及数据处理部,其根据所述工作台的每个旋转角度所对应的所述触头的位移量计算所述透镜测量面的坐标信息作为以所述旋转轴线为原点的极坐标,并将计算出的所述极坐标变换为正交坐标。
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