[发明专利]试样测定装置、程序及测定参数设定支持装置在审
| 申请号： | 201880099710.0 | 申请日： | 2018-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN113167776A | 公开（公告）日： | 2021-07-23 |
| 发明（设计）人： | 野田阳 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N30/86 | 分类号： | G01N30/86;G01N30/02;G01N30/52 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 薛恒;徐川 |
| 地址： | 日本京都府京都*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的试样测定装置包括：测定部(1)，进行试样的测定；以及控制部(2)，对由测定部所得的测定结果进行分析。控制部(2)构成为基于由测定参数的条件互不相同的多个测定条件所得的测定结果，使用模型式来推定并获取其他测定条件下的测定结果，并且基于所推定出的测定结果来推定测定品质指标相对于测定参数的分布。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 测定 装置 程序 参数 设定 支持 | ||
【主权项】：
暂无信息
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