[发明专利]X射线分析装置在审
| 申请号： | 201880096596.6 | 申请日： | 2018-08-27 |
| 公开（公告）号： | CN112601952A | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | 秋山刚志 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N23/2204 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | X射线分析装置(1)具备：试样支承部(10)，其对配置于各待机位置的多个试样(S)进行支承；搬送部(20)，其具有把持试样(S)的把持部(26)，搬送部(20)使试样在各待机位置与测定位置之间移动；X射线照射部(30)，其朝向配置于测定位置的试样照射初级X射线；检测器(40)，其检测从被照射了初级X射线的试样产生的荧光X射线；以及试样室(51)，其包括以能够分离的方式设置的第一部分(511)和第二部分(512)，在测定位置配置有试样(S)的状态下收容试样(S)和把持部(26)。第一部分(511)设置在测定位置的周边，第二部分(512)设置于搬送部(20)。在测定位置配置有试样(S)的状态下，第二部分(512)抵接于第一部分(511)，由此成为形成有试样室(51)的状态。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 分析 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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