[发明专利]减少光电导体表面的反射率变化在审
申请号: | 201880096305.3 | 申请日: | 2018-09-18 |
公开(公告)号: | CN112534357A | 公开(公告)日: | 2021-03-19 |
发明(设计)人: | L·科恩;S·齐柏施泰因;M·维努库尔;M·普罗特金 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
主分类号: | G03G21/00 | 分类号: | G03G21/00 |
代理公司: | 北京市汉坤律师事务所 11602 | 代理人: | 初媛媛;吴丽丽 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在本公开的示例中,在光电导体表面上涂敷成像油。使元件与光电导体表面的成像油接触。元件具有在成像油的第二折射率的预定义的容差内的第一折射率。将光电导体表面暴露于书写部件发出的光。该光穿过该元件和成像油。 | ||
搜索关键词: | 减少 光电 导体 表面 反射率 变化 | ||
【主权项】:
暂无信息
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