[发明专利]减少光电导体表面的反射率变化在审

专利信息
申请号: 201880096305.3 申请日: 2018-09-18
公开(公告)号: CN112534357A 公开(公告)日: 2021-03-19
发明(设计)人: L·科恩;S·齐柏施泰因;M·维努库尔;M·普罗特金 申请(专利权)人: 惠普发展公司;有限责任合伙企业
主分类号: G03G21/00 分类号: G03G21/00
代理公司: 北京市汉坤律师事务所 11602 代理人: 初媛媛;吴丽丽
地址: 美国德*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 减少 光电 导体 表面 反射率 变化
【说明书】:

在本公开的示例中,在光电导体表面上涂敷成像油。使元件与光电导体表面的成像油接触。元件具有在成像油的第二折射率的预定义的容差内的第一折射率。将光电导体表面暴露于书写部件发出的光。该光穿过该元件和成像油。

背景技术

打印设备可以向纸或其他基材涂敷打印剂(print agent)。在一个示例中,打印设备可以涂敷作为静电打印液的打印剂(例如,分散或悬浮在携带液中的可静电充电的碳粉或树脂着色剂颗粒)。这种系统通常被称为LEP打印系统。在其他示例中,打印设备可以经由干碳粉或喷墨打印技术涂敷打印剂。

附图说明

图1是描绘用于减少在打印期间光电导体反射率变化问题的方法的示例实施方式的流程图。

图2A和2B是示出使元件与光电导体处的成像油接触以解决打印期间的光电导体反射率问题的示例的简单示意图。

图3是描绘LEP打印机的示例的框图,该系统包括具有光电导体表面的可旋转鼓以及被放置为接触光电导体表面的成像油的柔性片。

图4A、4B、5A、和5B是示出利用接触光电导体表面的成像油的元件来解决打印期间的光电导体反射率变化问题的示例的简单示意图。

图6是示出使元件与具有可充电层和保护层的光电导体表面的成像油接触的示例的简单示意图。

图7是描绘用于解决LEP打印期间光电导体反射率变化问题的光学装置的示例的框图。

图8是示出根据本文描述的原理的示例的包括解决打印期间光电导体反射率变化的系统的LEP打印机的横截面图的简单示意图。

具体实施方式

在LEP打印的示例中,打印机可以通过在光电导体上放置静电电荷,然后利用激光扫描单元、LED书写头或其他书写部件在光电导体上施加期望图像的静电图案使光电导体选择性地放电来在打印基材上形成图像。选择性放电在光电导体上形成静电潜像。打印机包括显影站,以通过将静电油墨(在一些示例中,可以统称为“LEP油墨”或“电子油墨”)的薄层涂敷到图案化的光电导体来将潜像显影为可见图像。LEP油墨中的带电碳粉颗粒附着到光电导体上的静电图案从而形成液体油墨图像。在示例中,包括着色剂颗粒和携带液的液体油墨图像利用热和压力的组合从光电导体转印到中间传输元件(本文中称为“毯”)。在示例中,毯可以是可旋转鼓或者可以被附接到可旋转鼓。在另一示例中,毯可以是将由一系列滚轴驱动的传动带。在示例中,毯可以是消耗性的或可替换的毯。毯被加热,直到携带液蒸发,着色剂颗粒融化,并且作为结果的表示图像的溶膜被涂敷为止。

在示例中,静电潜像将形成在其上的光电导体表面上涂敷有成像油的薄层。成像油层将有助于油墨层从显影站到光电导体表面的涂敷。在某些应用中,成像油层可以是来自光电导体的清理站(cleaning station)执行的擦拭操作的残留物。在某些应用中,清理站将涂敷成像油的例如10-100nm的薄层,以延长光电导体表面的寿命和性能(例如,延迟/减缓成像油的氧化速度)。在某些应用中,成像油将附加地帮助墨迹图像从光电导体表面到毯的转印。但是,一些LEP打印机面临的显著挑战是,书写部件下方的光电导体表面的成像油层厚度的变化能够导致显著的打印质量问题。当书写部件对光电导体的形成潜像的选择性放电受到光电导体表面的不均匀反射性的不利影响时,打印质量会受到影响。在某些应用中,成像油厚度的5-10nm的变化会导致打印基材上的可见的打印质量缺陷。在一些应用中,增加光电导体表面的成像油厚度以减少反射率变化对于改善打印质量将是没有用的,因为向光电导体涂敷解决反射率变化所需要的厚度的成像油层将导致成像油从光电导体飞溅出去的问题和充电问题。在一些实施方式中,飞溅和充电问题会发生在10微米以上厚度的成像油上,从而导致显著的打印质量问题并损坏其他关键打印机部件。

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