[发明专利]光谱仪校准有效
| 申请号： | 201880044047.4 | 申请日： | 2018-05-03 |
| 公开（公告）号： | CN110809712B | 公开（公告）日： | 2022-06-21 |
| 发明（设计）人： | 石崎幸太郎;哈维尔·米格尔-桑切斯;彼得·伦琴 | 申请（专利权）人： | 赫普塔冈微光有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28;G01N21/27 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人： | 郭艳芳;王琦 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 校准光谱仪模块包括：使用光谱仪模块执行测量，以产生光谱仪模块的波长对操作参数校准数据；使用光谱仪模块执行测量，以产生光谱仪模块的光学串扰和暗噪声校准数据；以及使用光谱仪模块执行测量，以产生光谱仪模块的针对已知反射率标准的全系统响应校准数据。该方法可以进一步包括将包含波长对操作参数校准数据、光学串扰和暗噪声校准数据以及全系统响应校准数据的校准记录存储在耦接至光谱仪模块的存储器中，并将校准记录应用于由光谱仪模块进行的测量中。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱仪 校准 | ||
【主权项】：
暂无信息
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