[发明专利]图像坏点校正方法及设备、存储介质有效
| 申请号： | 201880039797.2 | 申请日： | 2018-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN110771131B | 公开（公告）日： | 2021-12-21 |
| 发明（设计）人： | 何健 | 申请（专利权）人： | 深圳市大疆创新科技有限公司 |
| 主分类号： | H04N5/217 | 分类号： | H04N5/217 |
| 代理公司： | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人： | 艾佳 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山区高*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种图像坏点校正方法，包括：获取第一曝光时长，所述第一曝光时长为第一图像的曝光时长(S100)；根据所述第一曝光时长从预设的至少两个坏点坐标表中确定目标坏点坐标表，其中，所述预设的至少两个坏点坐标表包括在不同的曝光参数下标定出的坏点坐标表(S200)；根据所述目标坏点坐标表对所述第一图像进行坏点校正(S300)。所述方法可以防止校正明显过度或校正明显不足的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 图像 校正 方法 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
1.一种图像坏点校正方法，其特征在于，包括：/n获取第一曝光时长，所述第一曝光时长为第一图像的曝光时长；/n根据所述第一曝光时长从预设的至少两个坏点坐标表中确定目标坏点坐标表，其中，所述预设的至少两个坏点坐标表包括在不同的曝光参数下标定出的坏点坐标表；/n根据所述目标坏点坐标表对所述第一图像进行坏点校正。/n
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